自定义ISPF面板

本文详细介绍了在IBM DB2环境下登录过程中的DBSPROC程序定位方法,以及如何通过修改ISR@PRIM文件来定制ISPF面板,包括增加显示行和命令的具体步骤。

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1)登录的时候可以看到登录执行的PROCEDURE,此处为DBSPROC

 

2、登录后,进入SDSF,再进入LOG,输入命令TOP,再输入命令F JOB,按F11把屏幕向右翻页,看到哪下界面

找到//IEFPDSI  DD  DSN=xxxxxx.DISP=SHR

此处可以找到ADCD.Z19.PROCLIB和SYS1.PROCLIB,说明第1步找到的DBSPROC就在这两个目录里。

 

3、进入那两个PROCLIB目录查找DBSPROC,按顺序查找,假如在ADCD.Z19.PROCLIB找到,就不用再去SYS1.PROCLIB找了。

我们在ADCD.Z19.PROCLIB目录里找到了DBSPROC,如图

 

4、进入DBSPROC,查找ISPPLIB

F ISPPLIB

 

5、可以看到DD了一大堆目录,我们要修改的ISR@PRIM就在这些目录里了,还是老套路,一个一个目录找吧。

 

功夫不负有心人,在第三个目录找到了ISR@PRIM,如图:

 

6、我们的ISPF面板定义就在这个文件里了,修改这个文件,

首先在界面上增加要显示的行,如下图,其中SD,DB,DA,DF四行都是我自己增加的。这个就是按原来的格式抄过来就是了。

 

其次,增加命令。上面一步,只是装了一个门,这一步是增加钥匙来开门。

如下图:(其中SD,DB,DA,DF都是我增加的,还是一样,抄原来的改改)

 

7、最终效果      (需要重新登录,才能看到效果)

虽然字体颜色方面不大一样,不过功能没问题。颜色方面没时间去研究,不管了。知道的可以回帖告知一声,先谢过~

 

转载于:https://www.cnblogs.com/niocai/p/3720989.html

内容概要:本文系统介绍了基于C#(VS2022+.NET Core)与HALCON 24.11的工业视觉测量拟合技术,涵盖边缘提取、几何拟合、精度优化及工业部署全流程。文中详细解析了亚像素边缘提取、Tukey抗噪算法、SVD平面拟合等核心技术,并提供了汽车零件孔径测量、PCB焊点共面性检测等典型应用场景的完整代码示例。通过GPU加速、EtherCAT同步等优化策略,实现了±0.01mm级测量精度,满足ISO 1101标准。此外,文章还探讨了深度学习、量子启发式算法等前沿技术的应用前景。 适合人群:具备一定编程基础,尤其是熟悉C#和HALCON的工程师或研究人员,以及从事工业视觉测量与自动化检测领域的技术人员。 使用场景及目标:①学习如何使用C#和HALCON实现高精度工业视觉测量系统的开发;②掌握边缘提取、抗差拟合、3D点云处理等核心技术的具体实现方法;③了解工业部署中的关键技术,如GPU加速、EtherCAT同步控制、实时数据看板等;④探索基于深度学习和量子计算的前沿技术在工业视觉中的应用。 其他说明:本文不仅提供了详细的理论分析和技术实现,还附有完整的代码示例和实验数据,帮助读者更好地理解和实践。同时,文中提到的硬件选型、校准方法、精度验证等内容,为实际项目实施提供了重要参考。文章最后还给出了未来的技术演进方向和开发者行动建议,如量子-经典混合计算、自监督学习等,以及参与HALCON官方认证和开源社区的建议。
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