《电子元器件的可靠性》——3.7节电子元器件失效率鉴定试验

本节书摘来自华章社区《电子元器件的可靠性》一书中的第3章，第3.7节电子元器件失效率鉴定试验，作者王守国，更多章节内容可以访问云栖社区“华章社区”公众号查看

3.7　电子元器件失效率鉴定试验
3.7.1　置信度与失效率
要了解经过筛选的元器件或材料产品可靠性究竟如何，还必须从该批产品中抽取一定数量的样品，进行失效率鉴定试验，特别是有可靠性指标的产品，其失效率等级的确定、升级都要经过这类试验，来加以确认。失效率试验分为：定级试验，即首次确定产品的失效率等级而进行的试验；维持试验，即为证明产品的失效率等级仍不低于定级试验或升级试验后所确定的失效率等级而进行的试验；升级试验，即为证明产品的失效率等级比原定的失效率等级更高而进行的试验。
对电子元器件产品的失效率试验，一般从五级开始，试验条件应在产品技术标准所规定的额定条件下进行，因为鉴定试验所确定的失效率等级是一个基本失效率，而不是产品使用条件下的失效率。
在确定失效率等级时还有一个置信度的选取问题，定级和升级试验的置信度一般取60%，只有在有特殊要求时，才选取90%。这是因为失效率试验的抽样方案与一般质量检验的计数抽样方案不同，即当产品的真实失效率等于某一等级的最大失效率时，它不应看作不合格的失效率。因此，如果置信度取高了，就会增大把本来符合某一失效率等级要求的产品鉴定为不合格的概率。以5级定级试验为例，若C（允许失效数）为1，置信度取60%，则真实失效率为0.5×10-5/小时的产品被鉴定为5级的概率只有73%；若置信度取90%，则同批产品被鉴定为5级的概率仅为42%。显然，置信度取得太高，把本来合格的产品判为不合格的概率增大，这对生产方不利。但是也不能把置信度取得太低，否则，可能增大把失效率等级不合格的产品判为合格的概率，这对使用方危险性增加。另外，要求产品的失效率属于某一级水平，总不能按这一等级的最大失效率来交付产品，必须要求产品的实际失效率远低于定级试验的最大失效率，才能被顺利通过。
此外，如果元器件失效率的置信度取得过高，那么利用元器件的失效率数据对设备或系统进行可靠性