GC偏好的校正与偏好程度的评估

本文介绍二代测序中GCbias现象及其校正方法。包括通过计算不同GC含量区段的平均测序深度来评估GCbias的程度,并采用LOESS回归等技术进行校正。

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在二代测序仪上测出的数据,通常都会表现出测序深度与GC 含量的相关性,称为GC bias。

GC bias校正

为了后续生物信息分析更加准确,通常需要做GC bias的校正。

2010 年 steven Quake 在Noninvasive diagnosis of fetal aneuploidy by shotgun sequencing DNA from maternal blood提出将GC content画出bin,并算出每个GC bin里的tags number的平均值,

然后将同一个GC bin里的其它depth除以这个平均的tags number值,得到一条曲线:

后来进一步改进,现在常用的LOESS回归的方法进行GC bias校正。

GC bias程度的评估

2013年 A Single Cell Level Based Method for Copy Number Variation Analysis by Low Coverage Massively Parallel Sequencing提到一种GC bias程度的计算:

 

转载于:https://www.cnblogs.com/zdwu/p/6904110.html

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