基础练习芯片测试

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原文链接：http://www.cnblogs.com/lolybj/p/6497854.html

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#java

本文介绍了一种通过相互测试来区分一组芯片中好芯片与坏芯片的算法。在已知好芯片数量多于坏芯片的前提下，利用一张测试结果矩阵确定哪些芯片可以信任。

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

观察发现判断某个芯片的好坏就是判断其他芯片判断这个芯片是坏的居多还是好的居多。因为好的芯片比坏的芯片多。

import java.util.Scanner;  
      
    public class Main{   
        public static void main(String[] args) {
            Scanner input = new Scanner(System.in);
            int n;
            n = input.nextInt();
            int[][] b= new int[n][2];
            int[][] a = new int[n][n];
            for(int i=0;i<n;i++){
                for(int j=0;j<n;j++){
                    a[i][j] = input.nextInt();
                }
            }
            for(int i=0;i<n;i++){
                for(int j=0;j<n;j++){
                    if(a[j][i]==0)
                        b[i][0]++;
                    else
                        b[i][1]++;
                }
            }
            boolean begin = true;
            for(int i=0;i<n;i++){
                if(b[i][0]<b[i][1]){
                    if(begin){
                        System.out.print(i+1);
                        begin = false;
                    }
                    else 
                        System.out.print(" "+(i+1));
                }
            }
        }
    
 }