mura检测方法

本文介绍了一种用于检测液晶面板Mura缺陷的方法,包括图像预处理、DCT滤波、背景重建和缺陷量化。通过扫描和CCD相机获取图像,利用DCT和低通滤波策略减少噪声,并通过阈值分割检测Mura。采用人眼敏感度的JND模型量化Mura程度,该方法在实际应用中展示了良好的检测效果。

图2展示了开发的流程图方法:

一种分割方法来检测区域不均匀。首先检查图像的背景,利用DCT原理和an图像过滤策略。然后可以检测出Mura缺陷并利用所开发的分割策略进行量化。一个首先从TFT LCD单元中获取液晶图像将其变换到频域,然后采用低通滤波策略对其进行滤波,提取其主图像组件。然后是逆离散余弦变换(IDCT)用于重建背景图像。提取不均匀缺陷采用图像减法进行分割从背景图像。紧接着,mura出现了缺陷然后用刚刚显著的差异(JND)来量化级别定义由半导体设备和材料国际)。方法中使用的每个步骤将在下面的小节中详细介绍。开发用于mura检测的硬件系统图3是所开发硬件的原理图mura自动检测系统。

液晶面板是由一个控制背光照明和检查下黑暗房间的状况。该系统包括背光控制模块,X-Y-Z扫描单元,CCD照相机和一台个人电脑。TFT液晶模块是自动安装由自动装卸单元进入集线器的背光控制模块量。所开发的硬件系统原理图自动色差检查。准确的定位。因为TFT LCD的大小面板太大,不能用一个单一的视场来检查

对于图像传感,采用扫描单元进行定位为了连续成像,面板连续地对着CCD采集(以虚线表示,箭头表示ofmovement路径)。一个渐进扫描B

Mura检测主要涉及IXD Mura缺陷检测,它是利用图像处理对缺陷进行检测和量化以替代人眼检测判断的技术。 ### 方法 国内外众多学者提出的机器视觉检测方法,但这些方法应用对象单一,只能检测出一种或几种IXD Mura缺陷,且检测效率低于人眼检测,这使得目前IXD Mura缺陷检测仍较多依靠人眼检测[^1]。传统的显示屏缺陷检测常由人工完成,但人工检测无法精准客观地检测微小物体和MURA缺陷,且易受主观因素影响,而利用机器视觉系统进行的自动光学检测能解决这些问题[^2]。 ### 技术 缺陷检测的关键技术包括图像采集、图像预处理、特征提取以及决策制定。图像采集获取产品图像作为后续处理的数据源;图像预处理包含降噪、增强对比度、校正几何畸变等步骤,为特征提取做准备;特征提取通过算法分析图像,提取如形状、纹理、颜色等有助于检测缺陷的特征;决策制定利用机器学习或人工智能方法,根据提取的特征进行缺陷的分类和判定。这些技术融合使用可使缺陷检测系统更高效精准,也可应用于Mura检测中[^3]。 ### 应用 Mura检测主要应用于显示屏缺陷检测领域。显示屏常见的显示缺陷分为点缺陷、线缺陷、MURA缺陷三大类,Mura检测在其中针对MURA缺陷进行检测,以保证显示屏的质量[^2]。 ```python # 以下是一个简单的伪代码示例,展示一个可能的缺陷检测流程 def mura_detection(image): # 图像采集(这里假设已经获取到图像) # 图像预处理 preprocessed_image = preprocess(image) # 特征提取 features = extract_features(preprocessed_image) # 决策制定 result = classify_defects(features) return result def preprocess(image): # 实现降噪、增强对比度、校正几何畸变等操作 return processed_image def extract_features(image): # 实现提取形状、纹理、颜色等特征的算法 return features def classify_defects(features): # 利用机器学习或人工智能方法进行缺陷分类 return defect_class ```
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