FT系列------selftest fail

   今天遇到一个问题，手机tp的selftest 出错了，于是看了一下log：

12-13 01:33:42.486   391     0 I Kernel  : <6>[  107.303390] [Focal][Touch] ftxxxx_ftsscaptest_store : tp test failure

那么问题到底出在哪里呢

12-13 01:33:38.528   391     0 I Kernel  : <6>[  103.223817] hjptest--->RawData Test is NG. 出在这里

看代码跑到了这里test_lib.c

if( iTxNum == 0 || iRxNum == 0)
{
bTestReuslt  = false;
FTS_DBG("Tx: %2d, Rx: %2d  \n", iTxNum, iRxNum);
goto TEST_END;
}

也就是说这两个都是0

这两个在这里获取

        iTxNum = GetTxNum();
focal_msleep(100);
iRxNum = GetRxNum();

然后

static short GetTxNum(void)
{
short txnum = 0;
unsigned char regvalue = 0x00;


if(WriteReg(0x00, 0x40) >= 0)
{
ReadReg(0x02,&regvalue);
txnum = (short)regvalue;
}
else
{
return TX_NUM_MAX;
}


return txnum;
}


static short GetRxNum(void)
{
short rxnum = 0;
unsigned char regvalue = 0x00;


if(WriteReg(0x00, 0x40) >= 0)
{
ReadReg(0x03,&regvalue);
rxnum = (short)regvalue;
}
else
{
return RX_NUM_MAX;
}


return rxnum;
}

直接读register的值但是没有i2c的通信错误所以应该就是值有问题，而其实这个值是fw写的，selftest就是把ic里的参数读出来和外面的excel的设定值比较，如果设定值卡的比较死，而tp硬件有点偏差就会出现fail，所以要放宽设定值