DFT学习笔记-Mbist电路连接

原创 已于 2023-09-18 01:00:32 修改 · 1.6k 阅读 · 11 ·
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于 2023-09-18 01:00:03 首次发布

上节学习了插mbist的时的脚本逻辑，这节进一步学习脚本在插mbist的时候都对电路做了哪些改动，包括定义了哪些端口，添加了哪些模块，都是什么功能。以下描述都是基于现在参考的一个设计环境，不方便贴出，有些步骤不是普适的。

在上图mbist_insertion_flow中，红框内的部分是插mbist的主要工作，根据之前的学习，三部分的工作内容如下：

dc.mbist.pre: 定义dft中用到的一些端口；为了避免之后可能会出现的DRC violation，在开始插Mbist之前将memory原本的function clock打断，通过mux连接上我们做Mbist的clock；对一些pin设置safevalue。

ts.mbist: 插Mbist。

dc.mbist.eco: 完善dc.mbist.pre中的clk连接。

下面介绍它们对电路做了哪些工作。

dc.mbist.pre

pre阶段是在dc中完成的。design loading就是给工具吃库文件和设计文件（netlist，sdc，def等等）；generate instances list就是抓取设计中都有哪些instances，方便之后插相应的电路。后面五步是pre中实际的job，完成后写出网表。下面分别介绍这五个job。

create dft port

创建如下的port：

  • DftMode：各种DftMode端口，bypassEn，reset等等，一般置1模式打开，置0模式关闭。
  • ScanEn：sc
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DFT学习笔记-Mbist基础概念
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08-31 2528
DFT意为Design For Testability，可测性设计，是在芯片功能电路设计好之后（有时也会在设计好前并行进行，节省时间）插入一定的测试电路，方便在流片之后对芯片的缺陷进行测试。针对IO的DFT设计一般用Boundary Scan（也叫Jtag），针对普通逻辑电路的DFT设计一般用Scan，针对芯片上的片上存储器DFT，一般用Mbist（Memory Build In Self Test，存储器内建自测试）。PD没学完，调去了DFT，只能开始学习DFT了。之前的ic后端学习笔记也不再更新了吧。
Memory的可测试性设计Mbist
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05-22 6182
随着半导体工艺尺寸不断缩小，IC设计的规模越来越大，高度复杂的IC产品正面临着高可靠性、高质量、低成本以及更短的产品上市周期等日益严峻的挑战。一方面随着半导体工艺尺寸的缩小，嵌入式存储器可能存在的缺陷类型越来越多；另一方面，随着IC产品的复杂度的提高，ROM、RAM、EEPROM在IC产品中的比重越来越大。 嵌入式存储器的可测试设计技术包括直接测试、用嵌入式CPU进行测试和内建自测试技术(
【DFT】MBIST (1) MBIST基础
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MBSIT 基础
DFT测试之TAP/SIB/TDR
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06-06 1317
tap全称是test access port，是将jtag接口转为reset、sel、ce、ue、se、si、tck和so这一系列测试组件接口的模块。上面的信号才是Jtag的接口信号，每一个信号都对应一个IOPAD。在设计中常会遇见tdo_en信号,这个信号是控制IOPAD在没有输出时，输出高阻态。它并不是实体的IO信号。也有可能会遇见tdi_en信号，控制IOPAD没有输入时，输入为高阻。单一般不会控制IOPAD的输入。那么TAP就是把这些Jtag接口，主要是通过解析TMS的指令。
DFT学习笔记 -ijtag下的mbist电路
tfrofc的博客
09-18 9506
先简单介绍一下mbist的基本流程，为后面的细节学习做个指导：当测试控制模块接收到开始测试的指令后，首先会切换存储器的输入输出到测试模式（Memory有自己的Test Mode），同时启动硬件向量生成模块开始产生和给出测试激励，同时计算存储器的输出期待值。存储器接收到测试向量之后，会间隔执行写/读/使能的操作，遍历测试所有地址下每个bit单元的写/读功能。最后，通过Q端输出的读取值，会与测试控制模块计算的期待值进行比较，是否正确的结果反馈到测试控制模块。
SOC设计——（6）MBIST
qq_34849963的博客
03-26 7237
Memory BIST Design For Test:可测性设计，检测芯片的质量。 做设计时：RTLcode，在系统级加入DFT设计。 逻辑综合时：做DFT扫描插入，自动测试向量生成，错误仿真，看覆盖率。 早期的DFT分析和BIST设计与RTL电路功能设计是同步的。 RTL可测性分析，RTL可验证性，RTL+电源供电信息UPF。 logic是扫描链 DFT太多削弱芯片性能，太少测试的范围小 ATE测试、CPU测试、MBIST测试：自动诊断和修复功能 ...
这3个DFT端口您清楚吗
u011075954的专栏
12-26 450
因为这三个信号我是在我的rtl层级代码中添加这三个信号，在我后续添加EDT、OCC等模块的时候，这三个信号会作为添加的OCC、EDT等模块的一部分信号。【问题】请问，我刚才突然有一个思路，对于physical_block层级，添加scan_en、edt_update、 test_clock这三个信号，我可不可以在我想指定的IP的顶层先手动添加scan_en、edt_update、 test_clock这三个信号呢。【问题】请问在注册如下这三个信号的时候，一般是将这三个信号跟电路现有的信号进行连接嘛？
March C算法
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March C算法是目前应用最为广泛的MBIST（Memory Built-In-Self-Test，存储器内建自测试）算法。
DftSpecification mbist Controller
wioooooo的博客
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指定内存 BIST 控制器的高级选项。
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MBIST总结嵌入式存储器的可测性设计及测试算法研究存储器测试算法与实现SOC可测试性设计与测试技术Mentor_mbist学习总结 mbist问题解决报告
​​​​DFT学习笔记-Mbist_insertion_flow
tfrofc的博客
09-01 1948
在脚本中插的就是这三个mux，脚本里首先断开原有的function clk连接，新建了function和mbist两个mux，在这个block里，这两个mux的I0都是原来的function clk；与pre中的flow类似，首先要进行design loading，这里要注意三个地方，一个是在吃文件之前要用set_context指定当前的工作环境为dft，并且指定吃的文件是非rtl网表，也就是门级网表，另外在吃设计的网表的时候要吃做完mbist.pre后吐出的网表，最后要记得为工具指定吐出文件的存放路径。
mbist_guide
01-08
在大规模集成电路时代，如何对memory进行测试，这篇文档有详细描述
mbist guide
11-07
mentor的mbistarchitect工具的guide文档
MBIST_March_C_算法论文合集.zip
08-20
包含了 一种Mbist新型算法March_3CL的设计_陈之超.caj 一种基于LFSR与MARCH_C_算法的SRAM内建自测电路设计_焦慧芳.caj 一种基于SRAM内建自测试的改进型March算法设计与验证_王振宇.caj 内建自测试march算法的优化研究_李大龙.caj 基于65nm工艺嵌入式存储器MBIST电路的研究_邓一峰.caj 基于BIST的嵌入式存储器可测性设计研究_徐金荣.caj 基于March_C_改进算法的MBIST设计_申志飞.caj 基于March_C_算法的MBIST设计_邓吉建.caj 基于March_C_算法的Memory_BIST设计与实现_翟明静.caj 基于March_C_算法的RAM内建自测试设计_刘兴辉.caj 基于March_C_算法的SRAM_BIST设计_张志超.caj 基于March_C_算法的单片机存储器测试_于文考.caj 基于March_C_算法的存储器内建自测试自测试设计与仿真_翟明静.caj 基于March算法的SRAM内建自测试设计与验证_郭明朝.caj 存储器测试算法研究与应用实现_汤志.caj 嵌入式SRAM内建自测试的测试实现_许正义.caj 改进型March算法在内存异常检测中的应用.pdf 改进型March算法在内存异常检测中的应用_曾慧.caj 片上SRAM内建自测试的实现方法_马琪.caj 静态随机存取存储器内建自测试电路的研究与设计_汪坤.caj
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标题“CCDF_PAPR_DFTspreading_PAPR_ofdm_DFTPAPR_dft-sofdm_DFT-S-OFDM”以及描述“利用OFDM的DFT-S信号减小PAPR”揭示了该压缩包文件内容的核心，即探讨在正交频分复用（OFDM）系统中如何通过离散傅里叶变换（DFT...
DFT学习笔记-Verilog testbench语法扫盲
tfrofc的博客
10-18 2132
task和function说明语句分别用来定义测试模块当中的任务和函数，利用任务和函数可以把一个很大规模的程序分解成很多较小的任务和函数，非常便于Testbench的编写、理解以及调试，类似于C语言中的函数接口，输入、输出、总线信号的值可以传入、传出任务和函数，所以说学会灵活使用task和function可以极大程度上简练Testbench的程序结构，使得程序整体上通俗易懂，直观明了。任何一个设计好的模块，都有输入和输出，此模块是否满足要求就是看给定满足要求的输入，是否能够得到满足要求的输出。
EDA（二）DFT之MBIST
yuzhouzhandiao的博客
05-01 1940
MBIST 是一种有效的存储器自检测技术，它通过减少对外部测试设备的依赖，提高了生产效率并降低了成本。然而，设计者需要仔细考虑测试算法的选择和测试覆盖率，以确保存储器的可靠性。MBIST（Memory Built-In Self-Test，内置存储器自检测）是一种用于检测半导体存储器（如 RAM）中制造缺陷和操作故障的技术。它允许存储器在没有外部测试设备的情况下进行自我测试，从而提高了生产效率并降低了成本。MBIST 的核心思想是利用存储器内部的逻辑电路来执行测试，而不需要外部的测试设备。
MBIST——存储器内建自测试
qq_36480087的博客
03-21 2721
转载学习： MBIST存储器内建自测试
[SOC] MBIST (Memory Built-In Self Test) and Memory Built-in Self Repair (BISR)
wangyijieonline的博客
11-13 4255
存储器构成了 VLSI 电路的很大一部分。存储系统设计的目的 是存储大量数据。[1] 存储器不包括逻辑门和触发器。因此，需要不同的故障模型和测试算法来测试存储器。MBIST 是一种自测试和修复机制，它通过一组有效的算法来测试存储器，以检测典型存储器单元内可能存在的所有故障，无论是卡住 (SAF)、转换延迟故障 (TDF) 、耦合 (CF) 或邻域模式敏感故障 (NPSF)。它使用内置时钟、地址和数据生成器以及读/写控制器逻辑来生成测试的测试模式。
edt update
01-01
在Java Swing应用程序中，所有的UI更新都应当发生在事件调度线程（Event Dispatch Thread, EDT）。为了保证这一点，在需要从非EDT线程更新UI的时候，应该使用`SwingUtilities.invokeLater()`或者`SwingUtilities.invokeAndWait()`。 对于异步任务，可以考虑使用`SwingWorker`类来处理耗时的任务而不阻塞EDT。下面是如何正确地进行EDT更新的一些指导原则： 当要执行一个不会立即完成的操作并且希望这个操作完成后更新UI时，应采用如下方式之一： 使用 `SwingUtilities.invokeLater(Runnable doRun)` 方法安排Runnable对象在事件派遣线程上运行。此方法并不等待Runnable的结束就返回。 ```java SwingUtilities.invokeLater(new Runnable() { public void run() { // 更新 UI 组件代码放在这里 } }); ``` 若需等待UI更新完成再继续执行后续逻辑，则可选择 `SwingUtilities.invokeAndWait(Runnable doRun)` 。这会让当前线程挂起直到Runnable被执行完毕。 请注意，由于涉及跨线程通信，`invokeAndWait` 可能抛出异常，因此通常需要用try-catch块包围起来。 ```java try { SwingUtilities.invokeAndWait(new Runnable() { public void run() { // 更新 UI 组件代码放在这里 } }); } catch (Exception e) { e.printStackTrace(); } ``` 对于长时间运行的任务，推荐使用 `SwingWorker<T,V>` 类来进行后台计算，并利用其提供的机制安全地与UI交互。例如： ```java new SwingWorker<Void, Void>() { @Override protected Void doInBackground() throws Exception { // 背景任务代码写在此处 return null; } @Override protected void done() { try { // 当背景任务结束后这里会被调用来更新UI } catch (Exception ignored) {} } }.execute(); ```
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