13、数据校验技术：汉明码、校验和与循环冗余校验的实现与模拟

数据校验技术：汉明码、校验和与循环冗余校验的实现与模拟

1. 汉明码逻辑与模拟

汉明码是一种用于检测和纠正单比特错误的编码方式。在模拟过程中，通过简单计数器生成一系列数据字，将这些数据字经过汉明码生成器，生成错误检测和纠正位（EDC）并附加到数据字后面。

模拟步骤如下：
1. 数据生成与编码 ：使用计数器生成数据字，将其送入汉明码生成器 HamGen 生成 EDC 位。
2. 错误注入 ：对于第一个数据字，不引入错误；对于第二个数据字，损坏第 1 位；对于第三个数据字，损坏第 2 位，以此类推。当最高有效位损坏后，重新开始不损坏任何位的过程。
3. 解码与验证 ：将可能损坏的数据和 EDC 位送入汉明码解码器 HamDec 进行解码，得到纠正后的数据。将纠正后的数据与原始数据进行比较，如果不匹配则显示错误信息并停止模拟。
4. 循环模拟 ：模拟通常会不断增加数据字，直到数据字回到零。如果在此过程中没有发现错误，则模拟成功结束。

以下是汉明码模拟代码：

// DEFINES
`define DEL 1
// Clock-to-output delay. Zero
// time delays can be confusing
// and sometimes cause problems.
`define BITS 8
// Number of bit