JEDEC JESD 47L-2022 Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits 集成电路（IC）在应力测试驱动下的可靠性认证要求

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JEDEC JESD 47L 是 JEDEC（固态技术协会）发布的一项标准，全称为 Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits。该标准定义了集成电路（IC）在应力测试驱动下的可靠性认证要求，确保器件在特定环境和工作条件下的长期稳定性。

核心内容

应力测试项目

• 高温工作寿命测试（HTOL）：评估器件在高温和高电压下的长期可靠性。
• 温度循环测试（TCT）：通过快速温度变化检测材料界面和封装结构的机械应力耐受性。
• 高加速应力测试（HAST）：模拟高湿高温环境，验证器件的防潮性能。
• 静电放电测试（ESD）：确保器件对静电放电事件的防护能力。

认证要求

• 测试样本量需满足统计显著性，通常要求一定数量的器件通过全部测试项目。
• 失效标准明确，如特定测试条件下的失效阈值（如漏电流、功能异常等）。

应用领域

• 消费电子、汽车电子、工业设备等领域的集成电路可靠性验证。
• 适用于先进工艺节点（如FinFET、FD-SOI）的器件认证。

与其他标准的关系

• 常与 JESD22（JEDEC 环境测试方法）系列标准配合使用，例如 JESD22-A104（温度循环测试方法）。
• 汽车电子领域可能需额外满足AEC-Q100J（汽车电子委员会标准）。