32、混合信号集成电路的内建自测试技术

混合信号集成电路的内建自测试技术

1. 混合信号集成电路简介

混合信号集成电路（Mixed-Signal ICs）结合了模拟和数字电路的功能，广泛应用于通信、消费电子、医疗设备等领域。随着集成电路复杂度的提升，确保其可靠性变得愈发重要。传统的外部测试方法不仅成本高昂，而且难以全面覆盖复杂的内部结构。为此，内建自测试（Built-In Self-Test, BIST）技术应运而生，成为提高测试覆盖率和降低成本的有效手段。

2. 内建自测试（BIST）的目的

BIST技术通过在芯片内部集成测试逻辑，使得芯片能够在制造完成后或现场运行时自动进行自我检测。这不仅提高了测试效率，还增强了产品的可靠性。具体来说，BIST的主要目标包括：

• 提高测试覆盖率 ：通过内置测试逻辑，能够更全面地检测芯片内部的模拟和数字部分。
• 降低成本 ：减少对外部测试设备的依赖，降低生产成本。
• 实时监控 ：支持在线测试，便于及时发现潜在问题，确保系统稳定运行。

3. 模拟信号生成

模拟信号生成是BIST技术的关键组成部分之一，尤其对于混合信号IC而言，确保模拟部分的有效测试至关重要。生成高质量的模拟信号能够更好地验证芯片的性能。常见的模拟信号生成方法包括：

• 基于硬件的信号生成 ：通过专用硬件模块生成测试信号，如正弦波、三角波等。
• 基于软件的信号生成 <