Fundamental I 06 Maintaining the Control File

本文介绍了Oracle数据库中的控制文件,包括其作用、内容以及如何进行修改。控制文件存储了数据库的物理结构信息,对于数据库的正常运行至关重要。文章还提到了Oracle推荐的控制文件配置策略。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

控制文件比较小: 小的二进制文件

  * 定义DB的物理结构

  * 维护DB的完整性

  * 在Mount, 操作DB的状态时, 文件是需要的, 由 create database 脚本指定大小

  * 可以恢复

  * Oracle强烈推荐每一个db都至少需要2个control file, 并且在不同物理磁盘上


可以根据SPFILE中的内容查找到相应的control file, 读取第一个( 但是其中一个crashed, 不能启动), 但是写多个

  mounting: 读取control file, 找到data file和redo log file的name, 但是此时不做校验.

  opening: 打开data file和redo log file, 如果出错会报错, 有必要的话SMON可以recovery


control files tell the instance where the database and online redo log files are.

  content: db name, time stamp, tablespace names, data file和redo log file的路径和名称, redo log file的序列号, checkpoint, 归档信息, 备份信息


修改control files, dest1和dest2需要存在

  1. alter system set control_files='dest1','dest2' scope=spfile;

  2. shutdown immediate

  3. startup


OMF( Oracle Managed Files)


v$controlfile;

v$controlfile_record_section;

show parameter control_file;

数字半导体测试的基础是对半导体器件进行功能和可靠性测试,以确保其在不同应用场景下的性能和可靠性。数字半导体测试的目标是验证器件的正确功能和电气特性,以及检测潜在的故障和缺陷。 数字半导体测试的基础包括以下几个方面: 1. 测试方法:数字半导体测试使用多种测试方法,如逻辑仿真、边界扫描、故障模拟等。逻辑仿真是验证电路功能的主要方法,通过模拟电路的输入和输出信号来验证其正确性。边界扫描测试是一种检测故障的方法,它通过在电路输入和输出端口添加边界扫描逻辑来实现。 2. 测试设备:数字半导体测试需要使用专用的测试设备,如测试仪器、测试夹具等。测试仪器用于对器件进行电气特性测试,如电流、电压、功耗等。测试夹具用于连接器件和测试设备,确保测试信号的准确传输。 3. 测试流程:数字半导体测试需要按照一定的测试流程进行,包括准备测试样品、设定测试参数、执行测试、分析测试结果等。测试流程需要有良好的设计和规划,以确保测试的准确性和高效性。 4. 故障分析:数字半导体测试中可能会出现故障和缺陷,需要进行故障分析。故障分析包括对测试结果的详细分析,确定故障的原因和位置,并采取相应的修复措施。 总之,数字半导体测试的基础是使用适当的方法和设备对半导体器件进行功能和可靠性测试,以确保其在不同应用场景下的性能和可靠性。这是半导体行业中至关重要的一环,对保证半导体产品的质量和可靠性起着重要作用。
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