CPU卡性能基本测试介绍



CPU卡性能基本测试介绍

1. RF性能测试
 卡片最小可工作的场强，基本等同于卡片在标准读卡器上最远的工作距离
 卡片与读卡机的兼容性，基本等同于卡片在各种读卡器上的最远工作距离
 ISO 14443-4 应用层协议兼容性测试
 
2. 交易性能测试
 卡片执行读写器指令所需要的时间，执行时间越少代表卡片的性能越高。
 卡片在交易中间断电时数据安全性，执行过程中断电数据不能被破坏。
 
 
 
 某宝上有读写器可以测试交易性能： 
 卡片执行读写器指令所需要的时间（FDT时间）
 卡片执行操作时断电(掉电、防拔)
 
 搜索：掉电读卡器、断电读卡器、FDT读卡器  即可找到