标题:测试次数
x星球的居民脾气不太好,但好在他们生气的时候唯一的异常举动是:摔手机。
各大厂商也就纷纷推出各种耐摔型手机。x星球的质监局规定了手机必须经过耐摔测试,并且评定出一个耐摔指数来,之后才允许上市流通。
x星球有很多高耸入云的高塔,刚好可以用来做耐摔测试。塔的每一层高度都是一样的,与地球上稍有不同的是,他们的第一层不是地面,而是相当于我们的2楼。
如果手机从第7层扔下去没摔坏,但第8层摔坏了,则手机耐摔指数=7。
特别地,如果手机从第1层扔下去就坏了,则耐摔指数=0。
如果到了塔的最高层第n层扔没摔坏,则耐摔指数=n
为了减少测试次数,从每个厂家抽样3部手机参加测试。
某次测试的塔高为1000层,如果我们总是采用最佳策略,在最坏的运气下最多需要测试多少次才能确定手机的耐摔指数呢?
请填写这个最多测试次数。
注意:需要填写的是一个整数,不要填写任何多余内容。
解析:这里需要用到动态规划:dp[i][j]表示还有i个手机没有谁坏,j层楼没有测试的最佳(最少)测试次数
假设现有2部手机提供测试耐摔指数,假设最后测试出来的耐摔指数为x,
那么第一次测试x层,若在x层摔坏则从第一层开始测试到x-1层;
第二次测试 若没有摔坏则测试x+(x-1)层,若在该层摔坏了则从x+1层开始测试到x+x-1-1层;
第三次测试 若没有摔坏则测试x+(x-1)+(x-2)层,若在该层摔坏了则从x+x层开始测试到x+(x-1)+(x-2)-1层;
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综上最后测试的层数为x(x+1)/2>=1000求得x=44
则这里可以推出状态转移公式:dp[2][j]=min(dp[2][j],1+max(dp[1][k-1],dp[2][j-k])),k∈[1,j-1]
*max(dp[1][k-1],dp[2][j-k])表示在k层摔手机,分为两种情况:第一种没有摔坏,那么需要测试从k+1层开始到j层即[k+1,j],但是题目并没有说层数越高摔坏的几率越大,相反这里每一层的摔坏几率都是一样的,所以[k+1,j]与[1,j-k]是一样的性质,即dp[2][j-k];第二种摔坏了,那么就需要从1层开始测试到k-1层,且手机数-1,即dp[1][k-1]。又因为要保证所有情况都测试过了,必须要取两者之间的最大值,所以max,又因为在k层测试过了一次所以计算的时候要加1
*min(dp[2][j],1+max(dp[1][k-1],dp[2][j-k]))表示取dp[2][j]的最优解,最小次数
现在回到题目的三部手机可以推出状态转移公式:dp[i][j]=min(dp[i][j],1+max(dp[i-1][k-1],dp[i][j-k])),k∈[1,j-1]
#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main()
{
int dp[5][1010];
for(int i=1;i<=3;i++)
for(int j=1;j<=1000;j++)
dp[i][j]=j;//先初始化最坏的情况即测试次数最多的情况
for(int i=2;i<=3;i++)//若只有一部手机了那么测试次数一定是最坏的情况所以从2开始枚举
for(int j=1;j<=1000;j++)
for(int k=1;k<j;k++)//这里不可以是k<=j因为是要测试[1,j-1]区间内的摔手机次数,若k=j时那么dp还是不变
dp[i][j]=min(dp[i][j],1+max(dp[i-1][k-1],dp[i][j-k]));
cout<<dp[3][1000]<<endl;
return 0;
}
答案:19