GalaxyChip的博客

实际上在wafer测试过程中经常会出现waferMap丢失或者被覆盖后期望根据测试datalog来恢复或者按照要求来生成指定TSKMap的需求。本文主要讨论其中的一个实现方案。1.期望的tskmap文件模板；2.datalog文件，整理成CSV或者EXCEL格式3.TestDataanalysis软件。参考“”添加链接描述待续...

1.实际芯片调试过程中，可能存在在两个工序有不同wafer notch的wafermap文件，需要对其进行合并。手动合并会存在各种错误风险，因此需要找到可批量操作实现方案。本文主要讨论一个基于“GalaxyWaferMapEditSetup”软件的两个notch wafer map合并方法。待续。。。...

配置文件说明：[SameDefineConfig]SameCount=3//说明清楚一共有多少组认为相同的，和下面的各组要对应DefFileA1=1//第1组认为相同的fileA中的字符串DefFileB1=63//第1组认为相同的fileB中的字符串DefFileA2=2//第2组认为相同的fileA中的字符串DefFileB2=32//第2组认为相同的fileB中的字符串DefF...

同时比较两个excel文件，软件界面中的fileA文件选择框和fileB文件选择框；比较时以fileA为基准，比较各个sheet（具体能比较多少个sheet取决于fileA和fileB的sheet数，若两个file sheet数量相等，则所有sheet均会比较，如果不等，则哪个文件的sheet数少，则比较的sheet数以少的这个为准。如fileA有5个sheet，fileB有3个sheet，则只...

GalaxyWaferMapEdit工具使用说明1.下载安装安装包；2.点击下一步完成安装默认初次安装有10次使用机会，之后需要付费激活后方可使用。3.直接打开tsk map原始文件4.选择probe型号5.选择右侧map任意单元格，放大缩小map并拖动6.修改die分bin7.点击保存...

DUT 1 (<COLOR=green>PASS):DUT 2 (<COLOR=green>PASS):DUT 3 (<COLOR=green>PASS):DUT 4 (<COLOR=green>PASS):DUT 5 (<COLOR=green>PASS):DUT 6 (<COLOR=green>PASS):DU...