7、神经科学数据处理:缺失值插补与变量变换

神经科学数据处理:缺失值插补与变量变换

1. 缺失数据插补

在各类神经科学数据集中,缺失数据是一个常见问题。例如,共聚焦或电子显微镜下不完美的数字重建可能导致信息缺失,临床神经退行性疾病数据集中某些诊断测试数据也可能缺失。Rubin(1976)将缺失数据机制分为以下三种类型:
- 完全随机缺失(MCAR) :具有缺失数据的案例是所有案例数据的随机子集。例如,阿尔茨海默病(AD)研究中的一份问卷意外丢失。在MCAR中,缺失的原因完全随机,即一个观测值缺失的概率与其他案例特征无关。对于MCAR机制,大多数处理缺失数据的简单技术,如可用案例分析,能给出无偏结果。
- 非随机缺失(MNAR) :某案例中某些变量信息缺失的概率取决于未观测到的信息,如案例本身的值。例如,在AD研究中,认知测试中的缺失数据案例更可能发生在患者处于疾病晚期阶段。这里,缺失的原因并非完全随机,而是与未观测到的患者变量有关。如果缺失数据是MNAR,数据中会丢失有价值的信息,且没有通用的方法能妥善处理缺失数据。
- 随机缺失(MAR) :某案例中某些信息缺失的概率通常取决于该案例中已有的信息,即缺失的原因基于其他观测到的患者特征。例如,评估AD患者特定预后测试的预测价值时,晚期患者的测试结果已知,但非患病受试者和早期患者的测试结果部分未知。在这个例子中,缺失数据是MAR:在可观测的患者特征(这里是疾病阶段)的条件下,缺失数据是随机的。对于MAR,可用案例分析会提供有偏估计,因为它不能被视为整个样本总体的随机样本。然而,更复杂的技术,如单插补和多插补,能提供无偏结果。

处理缺失数据的一种方法是在分

【永磁同步电机】基于模型预测控制MPC的永磁同步电机非线性终端滑模控制仿真研究(Simulink&Matlab代码实现)内容概要:本文围绕永磁同步电机(PMSM)的高性能控制展开,提出了一种结合模型预测控制(MPC)非线性终端滑模控制(NTSMC)的先进控制策略,并通过SimulinkMatlab进行系统建模仿真验证。该方法旨在克服传统控制中动态响应慢、鲁棒性不足等问题,利用MPC的多步预测和滚动优化能力,结合NTSMC的强鲁棒性和有限时间收敛特性,实现对电机转速和电流的高精度、快速响应控制。文中详细阐述了系统数学模型构建、控制器设计流程、参数整定方法及仿真结果分析,展示了该复合控制策略在抗干扰能力和动态性能方面的优越性。; 适合人群:具备自动控制理论、电机控制基础知识及一定Matlab/Simulink仿真能力的电气工程、自动化等相关专业的研究生、科研人员及从事电机驱动系统开发的工程师。; 使用场景及目标:①用于深入理解模型预测控制滑模控制在电机系统中的融合应用;②为永磁同步电机高性能控制系统的仿真研究实际设计提供可复现的技术方案代码参考;③支撑科研论文复现、课题研究或工程项目前期验证。; 阅读建议:建议读者结合提供的Simulink模型Matlab代码,逐步调试仿真环境,重点分析控制器设计逻辑参数敏感性,同时可尝试在此基础上引入外部扰动或参数变化以进一步验证控制鲁棒性。
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