在测 WCDMA 的内环功控时 ,最常 Fail 在 Step E 跟 Step F
因为 Step E 跟 Step F 要求的动态范围最大,至少 73 dB,且要求的精确度高
(Step Size = 1dB, Range = 0.5 dB ~ 1.5 dB),因此最常 Fail
而 PA 在切换 Gain Mode 时 会有一段区间的 Power 是重迭的,
称为磁滞现象
该磁滞现象,是避免 PA 在 Power Mode 切换时,因不稳定而产生震荡。同时也可避免 Power 变化太过剧烈,以至于 Slot 跟 Slot 间的 Power 差异过大,造成内环功控 Fail
而在量内环功控时 每秒钟会调整功率 1500 次,以 Step E 跟 Step F 而言,因为动态范围最大,所以必定每个 Power Mode 都会用到。如果 Power Mode 切换时间太慢,以下图为例:
ILPC测试
最新推荐文章于 2024-08-05 20:22:37 发布