基础练习 芯片测试

/*  
问题描述  
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。  
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片  
是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与  
被测试芯片实际的好坏无关）。  
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。  
输入格式  
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。  
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行  
中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1  
表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身  
进行测试）。  
输出格式  
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号  
样例输入  
3  
1 0 1  
0 1 0  
1 0 1  
样例输出  
1 3  
5
1 1 0 0 1
1 1 0 0 1
0 0 1 0 0
1 0 1 1 0
1 1 0 0 1
1 2 5

*/ 

#include<stdio.h>  
void shuru( int [][20] , int );
void shuchu( int [][20] , int );
int main(void)  
{  
    int sz[20][20];
    int n ;
	scanf("%d",&n);  
	shuru( sz , n );
	shuchu( sz , n );
    return 0;  
}  
void shuchu( int sz[][20] , int n)
{
	int i , j  , s ;
    for( i = 0 ; i < n ; i ++ )
	{
		s = 0 ;
		for(j = 0 ; j < n ; j ++)
		{
			s += sz[j][i] ;
		}
		if(s > n/2 )
		{
			printf("%d " , i+1 );
		}
		
	}  
}
void shuru( int sz[][20] , int n)
{
	int i , j ;
	for( i = 0 ; i < n ; i ++ )
	{
		for( j = 0 ; j < n ; j ++ )
		{
			scanf("%d" , &sz[i][j]);
		}
	}
}