芯片测试

问题描述

 

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。

 　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。

 　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

 

输入格式

 

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。

 　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

 

输出格式

 

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

 

样例输入

 

3

 1 0 1

 0 1 0

 1 0 1

 

样例输出

 

1 3

 

package LQB;

 

import java.util.Scanner;

public class Basic23 {

    public static void main(String[] args) {

        // TODO Auto-generated method stub

        Scanner sc=new Scanner(System.in);

        int n,i,j;

        n=sc.nextInt();

        int a[][]=new int[n][n];

        int count[]=new int[n];

        for(i=0;i<n;i++){

            

            count[i]=1;

            for( j=0;j<n;j++)

                a[i][j]=sc.nextInt();

        }

        for(j=0;j<n;j++)

        {

            for(i=0;i<n;i++){

                if(i!=j && (a[i][j]==1))

                    count[j]++;

            }

            if((count[j]>(n/2)) &&(j!=(n-1)))

                System.out.print(j+1+" ");

            else if((count[j]>(n/2))&& (j==(n-1)))

            System.out.println(n);

        }

 

    }

 

}