【蓝桥杯】基础练习芯片测试

最新推荐文章于 2024-01-29 10:17:49 发布

小呀小二笙

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本文介绍了一种基于多数原则的芯片好坏检测算法。在一个芯片集合中，好芯片数量超过坏芯片，利用芯片间相互测试的结果，通过计数每个芯片被标记为坏的次数，判断其好坏。若一个芯片被超过半数的其他芯片标记为坏，则认定为坏芯片，反之则为好芯片。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

问题描述
　　有 $n$ （2≤ $n$ ≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数 $n$ ，表示芯片个数。
　　第二行到第 $n + 1$ 行为 $n * n$ 的一张表，每行 $n$ 个数据。表中的每个数据为0或1，在这 $n$ 行中的第 $i$ 行第 $j$ 列（1≤ $i$ , $j$ ≤ $n$ ）的数据表示用第 $i$ 块芯片测试第 $j$ 块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏， $i = j$ 时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

个人思路：既然好芯片多于坏芯片，那么被测试的那个芯片如果为0的个数多于半数即能证明其是坏芯片。那么将坏芯片剔除余下的即是好芯片。

#include <iostream>
using namespace std;
int n;
int a[25][25];
bool vis[25];
int main() {
	cin >> n;
	for (int i = 1; i <= n; ++i) {
		for (int j = 1; j <= n; ++j) {
			cin >> a[i][j];
		}
	}
	for (int j = 1; j <= n; ++j) {
		int cnt = 0;
		for (int i = 1; i <= n; ++i) {
			if (i != j) {
				if (a[i][j] == 0) {
					cnt++;
				}
			}
		}
		if (cnt >= (n + 1)/2) {
			vis[j] = true;
		} 
	}
	for (int i = 1; i <= n; ++i) {
		if (!vis[i])
			cout << i << " ";
	}
	return 0;
}