RESMAP 400系列测试系统为半导体行业提供了高性能、高精度的电阻值测量解决方案。无论是在化学研磨抛光(CMP)、扩散、离子注入部门还是在导电薄膜研究中，该系统都能满足严格的测量要求。RESMAP 400系列不仅能够进行准确、可重复的测量，还具备快速、持久的特点。
CDE
4 探针电阻值测试系统
CDE Resmap 系统满足你所有的需求。 不管是在研究实验室还是需要高净化要 求的半导体生产车，它都可以完成连续24/7片从低到高,多数量连续测试的需求。不论 你是在化学研磨抛光（CMP）,扩散，离子注入部门，或者在导电薄膜研究， CDE的 RESMAP 系统可以满足您工艺上和测量需求发展上甚至是预算方面的要求。
Resmap系统提供的是准确、可重复使用的，快速、持久、先进的测量设备。如 今，全新的多探针测试系统 Resmap 400系列为您提供功能最全面，性价比最高的测量设备
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