光束质量分析仪位敏测量系统 Duma Optronics_光束位置分析仪-优快云博客

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Duma Optronics，成立于1989年的以色列公司，专注于激光光束测量系统的研发和生产。其SpotOn系列位敏测量系统提供多样化的功能，用于全面分析和评估激光光束质量。

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位敏测量系统

Duma Optronics 公司于1989年成立于以色列，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的位敏测量系统（SpotOn系列）产品类型丰富，功能全面。

SpotOn CCD：
·可3光束同时测量
·既可测连续光，又可测脉冲光
·探测器面积：4.83×6.47mm
·位置分辨率：亚微米
·精度：5um

型号：

SPOTCCD-VIS	采用PCI/ISA卡或USB适配器，波长范围：350-1100nm
SPOTCCD-IR-1310	采用PCI/ISA卡或USB适配器，波长范围：350-1310nm
SPOTCCD-UV	采用PCI/ISA卡或USB适配器，波长范围：190-1100nm
SPOTCCD-IR-1550	采用PCI/ISA卡或USB适配器，波长范围：350-1310nm和1550nm(+/- 50nm)

SpotOn USB 2.0：
·既可测光束位置，又可测功率
·最大可测直径：9mm
·功率范围：10uW－2.5mW(无衰减片)
·位置分辨率：0.1微米
·精度：±25um或±1um
·波长范围：350nm-1100nm

型号：

SPOTUSB-L	采用Lateral Effect PnP探测器，9×9mm，无玻璃罩
SPOTUSB-N	采用Lateral Effect PnP探测器，10×10mm，有玻璃罩
SPOTUSB-Q	采用Four Quadrant PnP探测器(30um间隙)，10×10mm，无玻璃罩
SPOTUSB-U	采用Four Quadrant PnP探测器(10um间隙)，10×10mm，有玻璃罩