利用影子顶点算法在多面体上寻找短路径
分析概述
在后续的讨论中,我们假定多面体 $P$ 是非退化的。也就是说,对于多面体 $P$ 的每个顶点 $x$,恰好存在 $n$ 个指标 $i$,使得 $a_{i}^{T}x = b_{i}$。这意味着,对于多面体 $P$ 中任意两个顶点 $x$ 和 $y$ 之间的边,恰好有 $n - 1$ 个指标 $i$,满足 $a_{i}^{T}x = a_{i}^{T}y = b_{i}$。
从影子顶点算法的描述可知,证明定理 1 的关键步骤在于界定从多边形 $P’$ 上 $\pi(x_1)$ 到 $\pi(x_2)$ 路径上的期望边数。为实现这一目标,我们关注该路径上各边的斜率。如前文所述,斜率序列呈单调递减趋势。我们将证明,由于目标函数 $w_1$ 和 $w_2$ 的随机性,斜率序列实际上以概率 1 严格递减,并且该路径上的所有斜率都有下界 0。
我们不直接计算从 $\pi(x_1)$ 到 $\pi(x_2)$ 路径上的边数,而是统计区间 $[0, 1]$ 内不同斜率的数量。我们发现,区间 $[0, +\infty)$ 内斜率的期望数量是区间 $[0, 1]$ 内斜率期望数量的两倍。为统计 $[0, 1]$ 内的斜率数量,我们把区间 $[0, 1]$ 划分为若干小子区间,并对每个子区间 $I$ 内的斜率期望数量进行界定。然后,利用期望的线性性质,得到区间 $[0, 1]$ 内不同斜率数量的上界,这直接转化为从 $\pi(x_1)$ 到 $\pi(x_2)$ 路径上期望边数的上界。
我们选取的子区间足够小,使得每个子区间以高概率最多包含一个斜率。这样,子区间 $I = (t, t + \varepsilon]$ 内斜率的期望数量近
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