基于V&V活动的缺陷清除率模型

最新推荐文章于 2025-03-16 15:29:32 发布
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本文介绍了基于V&V活动的缺陷清除率模型，定义了缺陷清除率并展示了计算方法。通过建立DRM，利用缺陷清除率进行预测和跟踪，指导项目实施，确保质量目标的达成。在项目不同阶段，通过对模型的调整和实际缺陷数据的对比，优化V&V活动，控制维护阶段的缺陷密度在基线中心线附近。

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1.1缺陷清除率的定义

缺陷清除率=发现的ＢＵＧ数 / 应该发现的ＢＵＧ数

1.2定义指示器

请见我曾发过的《度量分析计划》中与缺陷清除率有关的信息说明。

1.3缺陷清除率的计算

设开发过程有m个阶段，n个检查点，对第j个检查点发现的阶段i引入的缺陷个数记作Dij，则有如下缺陷清除矩阵：

 

缺陷数

缺陷注入

阶段1

阶段2

阶段3

阶段4

……

阶段i

……

阶段m

总计

V

&

V

活动

检查1

D11

 

 

 

 

 

 

 

D*1

检查2

D12

D22

 

 

 

 

 

 

D*2

检查3

D13

D23

D33

 

 

 

 

 

D*3

检查4

D14

D24

D34

D41

 

 

 

 

D*4

……

……

……

……

……

……

 

 

 

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