问题:
由于资料缺失,按照SEED-DEC的软件手册资料利用JTAG烧写ubl和uboot,一直提示出问题!
问题如下:(略有空在添加)
解决方法:
《普通高等院校嵌入式系统规划教材:DSP+ARM双核处理器OMAPL138开发入门》一书中,按照书中步骤即可成功烧写ubl和uboot;
注意:
BOOT[4:1] = 0000 – 仿真起动模式.
BOOT[4:1] = 1000 - NAND 起动模式
BOOT[4:1]
= 0101—串口启动模式
在仿真启动模式下,可以通过JTAG烧写ubl和uboot;
在NAND启动模式下,通过串口可以显示核心板的信息,如下所示:
*******************************************************************
U-Boot
2009.01 (Jan 06 2010 - 11:01:54)
I2C: ready
DRAM: 64 MB
NAND: NAND device: Manufacturer ID: 0xec, Chip ID: 0xd3 (Samsung NAND 1GiB 3,3V 8-bit)
Bad block table found at page 524224, version 0x01
Bad block table found at page 524160, version 0x01
nand_read_bbt: Bad block at 0x24100000
1024 MiB
*** Warning - bad CRC or NAND, using default environment
In: serial
Out: serial
Err: serial
ARM Clock : 300000000 Hz
DDR Clock : 150000000 Hz
Error - unable to probe SPI flash.
Net: No ETH PHY detected!!!
Hit any key to stop autoboot: 0
U-Boot >
*******************************************************************
特别注意:红色字体的信息,这些信息提示出:
1.核心板有坏区
2.nand_read_bbt存在坏区,地址为0x24100000
3.无法探测到SPI flash
4.无法发现ETH PHY
另外一块ICETEK核心板出现的问题是:
原因是:JTAG烧写ubl和uboot时,采用NAND 启动模式(应是仿真启动模式),重新上电后串口就会提示上述信息!!!!!
问题解决方案:尚无