GD32F4系列外部晶振启动异常问题解析

刚好有个项目用GD32F407系列，用到了RTC和纽扣电池。中间产品测试时，发现界面时钟没有更新，软件工程师调试反馈是LXTAL使能后无法稳定。于是，硬件来分析：

1）示波器查看，确实32768晶振两边都无明显规律波形。

2）查看生产BOM表、查看Datasheet，未发现异常。

因此同样的产品做过多次样机了，所以手上有一些OK的板子，就通过对调器件来分析。

3）对调电容，OK的还是OK，NG的还是NG。

4）对调晶振，OK的还是OK，NG的还是NG。

5）对调MCU，OK的板NG了，NG的板依然NG。

暂且认为高温把OK的MCU搞坏了吧。

重新领取库存全新物料，焊接到NG的板子上，也还是NG。
6）试一下匹配电容，从8.2pF——22pF（标称负载电容式12.5pF），都换过，NG。

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当时正巧试产设备和一批研发样机，都出现了这个问题，于是赶紧反馈给双边供应商，寻求帮助。

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开始自己调软件，发现故障现象莫名其妙：

A）LXTAL稳定失败

B）LXTAL稳定成功，但是RTC不计数

C）LXTAL稳定成功，但是掉电后不走时

D）IR32K稳定失败

E）IR32K稳定成功

再与软件工程师协作下，发现NG的板子烧写他的程序OK了。

不得不怀疑和软件有关，对比代码：

rcu_periph_clock_enable(RCU_PMU);
pmu_backup_write_enable(); 

上面两句很重要，需要弄在下面句子之前面。

rcu_osci_on(RCU_LXTAL);
if(SUCCESS==rcu_osci_stab_wait(RCU_LXTAL))

OK，LXTAL正常启动，示波器检测有波形，但是还是有些故障。

最后发现，去纽扣电池，掉电再上电，重新烧写程序，一切OK。

其实，本文没有完全解答怎么配置LXTAL才能100%正常。

以上信息，仅供参考阅读。