功率半导体的正负温度系数

稳压二极管的温度系数 稳压二极管,具有正的或负的温度系数。从网络及模电书上可以查到,稳压值在4~7V的稳压管,温度系数较小;在7V以上是正温度系数,属于雪崩击穿;大概在4V以下,大都是负温度系数,属于齐纳击穿。根据手头现有的稳压管,粗略做了一下稳压管温度系数的实验。 阅读详情
AI摘要

功率半导体管压降随温度变化呈现不同特性,有正、负温度系数之分。正温度系数器件并联可动态均流,负温度系数则形成正反馈。常见功率半导体中,IGBT、MOS(硅、碳化硅)多为正温度系数,普通硅二极管为负温度系数,碳化硅肖特基二极管为正温度系数。


考虑到整机的成本因素,许多功率变换器使用了半导体并联方案。并联的均流问题一直是一个技术热点,目前新型半导体器件也越来越多,除了软件的控制外,硬件上什么类型的半导体适合并联?哪些不适合并联也值得讨论下。
中间过程只是个记录,可以直接看结论。

正负温度系数

功率半导体的管压降随着温度的不同会呈现不同的特性。管压降的变化与温度变化成正比,为正温度系数。也即温度升高 - >管压降增大;温度降低 -> 管压降减小。反之为负温度系数。

正温度系统的半导体,两个或多个并联时,当其中一个电流应力偏大,则会导致器件温度升高,从而导致管压降升高;由于器件是并联的,管压降高的器件会分的更少的电流,从而导致温度降低,形成负反馈,达到动态均流。
而负温度系数的半导体则会形成正反馈。

功率半导体

常见的功率半导体:
Si IGBT
Si MOS
SiC MOS
Si rectify
SiC schottky

Si IGBT

以英飞凌 FF450R12ME4 IGBT模块为例,如下图。
在相同电流的情况下,温度升高Vce增大,为正温度系统器件。
在这里插入图片描述

Si Mos

以英飞凌IPB60R099CPA 为例,如下图。
以Vgs=20V这条线,
25°时,Id=50A,Vds大约有6V;
150°时,Id=50A,Vds大约有15V;
温度升高,管压降增大,为正温度系统
在这里插入图片描述
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SiC Mos

下图分别是CREE的C3D10060A 和 Rohm的SCT3022KLHR
150°的管压降都比25°大,都为正温度系数
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Si Rectify

以西门康SKD146系列整流桥为例,
25°的Vf比150°大,属于负温度系数。
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Si schottky

下图是ON的NTSB40200CTG,温度越低,Vf越大,为负温度系数。
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SiC schottky

下图是Rohm的SCS220KGHR SiC肖特基二极管,为正温度系数。
在这里插入图片描述

总结

1,从以上可以看出,IGBT,MOS(硅,碳化硅),都属于正温度器件。而普通的硅二极管属于负温度系数器件,但是碳化硅肖特基二极管属于正温度系数。
2,IGBT已经发展了很多代,有些参杂方式的IGBT属于负温度系统,只是这个短文没讨论。遇到任何器件都一定要仔细看规格书。
3,碳化硅肖特基二级挂为正温度系数,适合并联使用,这个跟传统的硅器件不一样,使用时要注意。

核心要点总结:二极管分类与温度特性关系 深入探讨不同二极管分类下的温度特性变化规律,帮助理解各类二极管在实际应用中的热稳定性与性能差异,尤其针对硅管与锗管的温度响应进行对比分析。 阅读详情

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