IDE使用卡顿排查处理

博客介绍了解决IDE卡顿的方法。先通过任务控制器排查是CPU还是内存导致卡顿,若为CPU吃满,可跟踪后台插件CPU活动找源头并关闭插件、重启IDE;若为内存问题,可根据机器内存调整运行参数,如设置 -Xms、-Xmx等,还可增加编译内存。

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1、通过任务控制器排查卡顿的原因,是由于CPU,还是内存导致。

通过截图可知是由于 cpu 吃满。

2、跟踪后台插件cpu活动情况,找出卡顿源头

help -> Diagnostic Tools -> Activity Monitor

3、关闭插件,重启IDE。

如果是内存问题,可参照以下步骤

1、根据机器内存情况调整运行参数

help -> Edit Custom VM Options

-Xms 是最小启动内存参数

-Xmx 是最大运行内存参数

-XX:ReservedCodeCacheSize 保留代码占用的内存容量参数

-Xms256m

-Xmx2048m

-XX:ReservedCodeCacheSize=300m

2、增加编译内存
<think>首先,用户的问题是:“怎么使用排查的”,这似乎是对之前内容的延续。回顾历史对话: - 第一次查询是关于没听课的补救方法。 - 第二次查询是关于MTK相机中“aee_”关键字的用途。 - 现在用户说“怎么使用排查的”,可能是在问如何使用排查MTK相机中的AEE日志。 用户的问题很简短:“怎么使用排查的”,结合上下文,我认为这是在询问如何具体使用排查MTK相机系统中的AEE日志功能。之前的回答解释了aee_关键字是什么和有什么用,现在用户想知道操作步骤。 所以,我的回答需要聚焦于: - 如何使用AEE日志功能(例如,如何启用、收集日志)。 - 如何排查问题(例如,步骤分析日志)。 回答结构: 1. **回答部分**:先解释如何使用排查。 2. **§§相关问题§§**:在末尾提出3-5个相关问题。 确保回答完整: - 使用中文。 - 回答后直接输出“§§相关问题§§”,然后列出问题,禁止换行分散。 内容大纲: - **如何使用**: - 启用AEE日志:在MTK设备上,可能需要通过adb命令或系统设置启用调试模式。 - 收集日志:使用logcat命令过滤aee_关键字,或导出aee.db文件。 - **如何排查**: - 步骤:获取日志、分析错误类型(如ANR、kernel panic)、定位模块、修复代码。 - 工具:如MTK的Maui META工具或其他调试工具。 - 示例命令:提供一些adb或logcat命令。 §§相关问题§§:需要3-5个相关问题,基于用户的问题和我的回答。例如: 1. 如何配置AEE日志的详细级别? 2. 常见的AEE错误类型有哪些? 3. 使用哪些工具分析aee.db文件? 4. 在相机模块中,如何复现AEE报告的错误? 5. 如何优化相机驱动以避免AEE错误? 确保格式: - 回答后,第一行是“§§相关问题§§”,然后列出问题,用数字编号,每个问题一行。 - 禁止换行分散,意思是问题列表要连续,不要有空行。 最终回答结构: 1. 解释使用排查步骤。 2. 输出“§§相关问题§§”。 3. 列出3-5个相关问题。</think>在MTK相机系统中,使用排查AEE(Android Exception Engine)日志涉及以下关键步骤,帮助诊断相机相关问题如崩溃、卡顿或硬件故障: ### **如何使用AEE日志** 1. **启用日志收集**: - 在设备上开启调试模式:通过ADB命令 `adb shell setprop persist.vendor.aee.core.enable 1` 启用AEE核心功能。 - 设置日志级别:使用 `adb shell aee config set level debug` 提升详细度(默认为info)。 2. **捕获日志**: - 实时过滤:运行 `adb logcat | grep "aee_"` 提取AEE相关条目,聚焦相机模块(如 `aee_camera` 标签)。 - 导出错误报告:触发相机问题后,执行 `adb pull /data/vendor/aee_db` 获取压缩的aee.db文件,包含堆栈和上下文。 3. **工具辅助**:使用MTK官方工具(如Maui META)解析aee.db,或集成到IDE(如Android Studio)可视化分析。 ### **如何排查问题** 1. **初步分析**: - 检查日志类型:识别错误模式(如 `aee_kernel_panic` 表示驱动崩溃,`aee_anr` 表示应用无响应)。 - 定位模块:搜索关键字如 `camera_sensor` 或 `isp_driver` 确定故障点。 2. **深入诊断**: - 复现问题:在相机App中执行操作(如连拍或HDR模式),同时监控日志。 - 代码级调试:结合堆栈信息,在驱动或HAL层检查资源泄漏或超时逻辑。 3. **修复与优化**: - 常见处理:更新驱动补丁、调整缓冲区大小或优化算法。 - 验证:复测后确认日志中 `aee_` 错误消失。 示例命令快速排查: ```bash adb logcat -s "aee_*:E" | grep "camera" # 过滤相机相关AEE错误 ```
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