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蓝桥杯 basic23试题 基础练习 芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
错误思路
刚开始的思路是从小的矩阵开始推演,后来发现只要是关于斜对角线对称的就可以互证正确性,而且发现只有一个芯片被大于2次证明是真的,就可以证明它是真的,于是就有了错误的代码
遇到的问题
思路不够周全最后导致有很多的遗漏问题,比如互为对角线的两个到底哪个才是正确的,因为在其他行还有很多的可能性,虽然最后我按照案例样本通过了,但是还是没有真正搞清楚
错误代码
import java.util.Scanner;
public class Main {
public static void main(String[] args) {
Scanner scanner = new Scanner(System.in);
int n = scanner.nextInt();
int[][] a = new int[n][n];
int[] flag=new int[n];
for (int i = 0; i < n; i++) {
flag[i]=0;
for (int j = 0; j < n; j++) {
a[i][j]=scanner.nextInt();
}
}
for (int i=1;i<n;i++){
for (int j=0;j<i;j++){
if(a[i][j]==1&&a[j][i]==1&&i!=j){
flag[i]++;
flag[j]++;
}
}
}
for (int i=0;i<n;i++){
if(flag[i]>=2&&n>3){
System.out.printf("%d ",i+1);
}
else if(n<=3&&flag[i]==1){
System.out.printf("%d ",i+1);
}
}
}
}
##错误 结果

由结果虽然正确但是还是不懂
借鉴完别人经验之后的思路
因为好芯片比坏芯片多,所以,每一个芯片与其它芯片n个比较时,只要测试的结果大于或等于n/2 就能证明这是好芯片,然后把芯片所在位置输出来即可。
恍然大悟
因此我只需要修改自己的判断结果就可以了
正确代码部分
import java.util.Scanner;
public class Main {
public static void main(String[] args) {
Scanner scanner = new Scanner(System.in);
int n = scanner.nextInt();
int[][] a = new int[n][n];
int[] flag=new int[n];
for (int i = 0; i < n; i++) {
flag[i]=0;
for (int j = 0; j < n; j++) {
a[i][j]=scanner.nextInt();
}
}
for (int i=1;i<n;i++){
for (int j=0;j<i;j++){
if(a[i][j]==1&&a[j][i]==1&&i!=j){
flag[i]++;
flag[j]++;
}
}
}
for (int i=0;i<n;i++){
if(flag[i]>=n/2){//其他都和上面相同 只有这个地方改了下
System.out.printf("%d ",i+1);
}
}
}
}
成功截图

思考
这题的难点就是需要发现在一定的规矩下,出现的各种结果和矩阵的相关性,例如我发现对角线相同的两个数就是互证正确,但是忽视了已知好芯片比差芯片要多,因此最后只得出以3为分界点会有不同状况的结论,虽然也是正确,但是最后看到别人的思路,才真正明白此题含义,以及为什么会重复出现多次就可证其正确,大致与概率论有关系。
附加
第一次写博客,思路也许不太清晰,仅作为个人记录学习使用,如果各位大佬们有意见和建议也可以在评论区加以指导。一起进步一起学习
本文记录了一道蓝桥杯basic23试题的解题过程,涉及芯片测试,其中好芯片比坏芯片多。通过分析测试结果,找到判断好芯片的条件,并分享了错误思路、正确解决方案及代码实现。文章强调了正确理解问题和概率论在解题中的作用。
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