本文介绍了一个使用Halcon的check_smd_tilt.hdev例程，通过该例程学习如何利用measure_projection算子测量1D灰度剖面，从而检测SMDS是否倾斜。程序涉及图像分割、边缘振幅计算和倾斜比例评估，旨在检测图像中SMD的倾斜程度。
本例程来做halcon10.0版本中的一维函数中check_smd_tilt.hdev例程，通过此例程可以学习到如何使用halcon中算子measure_projection通过投影图像上垂直于剖面线方向的灰度值来提取1D灰度剖面，如下是对此算子的详细理解：
更多关于测量的算子理解，可以参考北京大恒宣讲的PPT halcon测量技术。
下面例程是检测SMDS是否与近水平或者相对相机是否倾斜。分析图像发现相机的景深很小，因此倾斜的拍摄的图像是模糊的。
因此才程序采用了首先对图像进行分割，然后计算边缘的振幅（灰度值的一阶导数）。发现边缘模糊的区域是弱振幅，因此倾斜的SMDS可以通过边缘的振幅来进行检测。
本例程主要学习
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