38、侧信道攻击的实用改进

侧信道攻击的实用改进

1. 基于合适泄漏模型的攻击改进

1.1 成功率

成功率是两个参数的函数，第一个是离线分析追踪计数，第二个是在线攻击追踪计数。从相关曲线可以看出，成功率随任意一种追踪计数的增加而上升。

不同模型的成功率表现如下：
- 模型A与模型B对比 ：直观上，由于S盒的遍历是准双射函数，会认为模型A和B的攻击性能相似。但在DES中，DES的S盒输入为6位，输出为4位，当固定两个输入位时，S盒才具有双射性。模型B比A稍差与实现有关，在轮组合逻辑中，B比A的泄漏更深，更易受到时钟周期内的时序偏移和CMOS组合部分的杂散毛刺活动影响。
- 模型A与模型C对比 ：原本认为模型C（模拟寄存器活动）会比A好，但实际并非如此。原因是A的特征向量比C有更多峰值，能收集到追踪中更分散的信息。
- 模型D与模型E ：这两个模型是进行攻击的最佳选择。只需约200条追踪，攻击成功概率就能达到90%；250条追踪时，概率升至100%。这表明了解电路中的寄存器传输能显著增强攻击效果，在未受保护的CMOS电路中，这些模型表现出色。进一步比较模型D和E，在相同模板使用追踪数的情况下，D的表现优于E，因为E是近似模型，但在给定一定数量的分析测量时，E更受青睐。

模型	特点	成功率表现
A	-