超大规模可重构织物的缺陷测试与容忍策略
在超大规模可重构织物(VLRFs)的应用中,如何有效检测和容忍缺陷是一个关键问题。本文将介绍一种针对VLRFs的缺陷测试算法,并对相关技术进行详细分析。
1. 编程方式的创新
传统的可重构硬件编程使用硬件描述语言,而对于VLRFs,我们建议使用传统的高级软件编程语言。以CASH编译器为例,它能将ANSI C程序编译成数据流机器集合。这些数据流机器具有高度可组合性,接口简单,采用与定时无关的协议。实现这些数据流机器的自然选择是异步(或全局异步、局部同步)电路,这种电路有助于实现快速编译并满足缺陷容忍要求。
2. 缺陷定义与背景
在测试VLRFs时,我们对缺陷和故障进行了抽象定义。缺陷是永久性的,会导致有缺陷的资源出现故障,但不影响周围其他资源,且总是表现为故障。例如,永久性的开路和固定故障就属于此类。我们不直接考虑短路问题,因为短路会使连接到短路线路的多个组件无法使用,但短路会表现为一组相邻组件的故障,我们的测试方法应能检测到这种情况。同时,我们也不考虑那些不影响组件功能,仅轻微影响延迟和功耗等参数的缺陷。
VLSI测试是一个研究较多的领域,但大多数技术假设被测电路部分只有单个或极少数故障。而我们面临的问题更具挑战性,因为被测资源的很大一部分可能存在缺陷。不过,VLRFs的可重构性使我们在测试时有更大的灵活性,可以选择实现特定的电路进行测试。
3. 织物架构
可重构设备的具体架构对缺陷检测和避免算法并非至关重要。在建模算法时,我们假设采用类似岛式FPGA的架构,即由互连资源网格围绕可重构逻辑岛组成。例如,nanoFabric和DeHon提出的架构都满足缺陷
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