蓝桥杯芯片测试运用map及其迭代器使用

最新推荐文章于 2021-11-29 19:12:50 发布

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分类专栏：蓝桥杯

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本文介绍了一种通过相互测试来区分一组芯片中好芯片与坏芯片的算法。在已知好芯片数量多于坏芯片的情况下，利用芯片间相互测试的结果，找出所有好芯片的编号。

摘要生成于 C知道，由 DeepSeek-R1 满血版支持，前往体验 >

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

样例输出

1 3

#include<iostream>
#include<map>
#include<string>
using namespace std;

map<string,int> map_data;
char c[20][20];
string s[20] ;
int main()
{
    int n;
    int i,j;
    int max;
    string res;
    cin >> n;
    for(i = 0; i < n; i++)
    {
		s[i] = "";
        for(j = 0; j < n; j++)
        {
            cin >> c[i][j];
            s[i] += c[i][j];
        }
    }
    for(i = 0; i < n; i++)
    {
        if(map_data.count(s[i]))
        {
            map_data[s[i]] ++;
        }
        else
        {
            map_data[s[i]] = 1;
        }
    }
    map<string, int>::iterator iter;
    res = map_data.begin()->first;
    max = map_data.begin()->second;
    for(iter = map_data.begin(); iter != map_data.end();iter++)
    {
        if(iter->second > max)
        {
            res = iter->first;
        }
    }
    for(i = 0; i < n; i++)
    {
        if('1' == res[i])
        {
            cout << i+1 << ' ';
        }
    }
    system("pause");
    return 0;
}