SAM-BA v2.6和NandFlash 坏区管理

最新推荐文章于 2025-05-24 10:06:12 发布

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使用SAM-BAv2.6时可能会检测到NAND Flash存在许多假坏区，这并非真正损坏，而是由于数据及ECC字节写入特定区域导致。通过初始化NAND Flash并完全擦除所有数据可以解决此问题，但制造商提供的坏区标记将会丢失。如果已知哪些区块被标记为坏区，可通过TCL shell手动重新标记。

Question

当擦除或者写NANDFLASH的时候，SAM-BA v2.6会查找出很多坏区. 这个正常吗?我应该怎么处理他们呢？
Answer
SAM-BA v2.5 或者是之前的版本，对AT91SAM9260-E或者 AT91SAM9263-EK主板的NandFlash烧写的时候，通常会出现这种情况. 这些区不一定真正的损坏了，但是数据尤其是ECC字节要被写入的空白区，正是为坏扇区的标志为所预留的区域。因此SAM-BA v2.6 检测他们为坏区. 要想得到一个空白的没有坏区的NANDFLASH，可以遵循以下的步骤来解决这个问题: - 启动SAM-BA v2.6 GUI - 在NANDFLASH tab, 选择'NandFlash Init' 脚本并且执行 - 在GUI 的TCL shell部分写入: '::NANDFLASH::EraseAllNandFlashFull' 警告 :这个过程将擦除所有的数据也包括坏区的标志位，所以制造商提供的坏区标志将丢失. 假如你知道哪一个区被制造商标志为坏区的话，你也是人为的在SAM-BA TCL shell通过输入如下语句来标识出他们'::NANDFLASH::TagBadBlock <block_number>'.