JTAG接口定义 JTAG(Joint Test Action Group ,联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议,主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试, JTAG 技术是一种嵌入式调试技术,它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP ( Test Access Port ,测试访问口),通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。 目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议,如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线: TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ,分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 目前 JTAG 接口的连接有两种标准,即 14 针接口和 20 针接口,其定义分别如下所示。 14针JTAG接口定义引脚名称描述 1 、 13 VCC 接电源 2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地 3 nTRST 测试系统复位信号 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 TDO 测试数据串行输出 12 NC 未连接 20针JTAG接口定义引脚名称描述 1 VTref 目标板参考电压,接电源 2 VCC 接电源 3 nTRST 测试系统复位信号 4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 接地 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 RTCK 测试时钟返回信号 13 TDO 测试数据串行输出 15 nRESET 目标系统复位信号 17 、 19 NC 未连接