FLASH如何监视客户端分辩率

本文介绍了一种使用ActionScript获取屏幕分辨率的方法。通过调用System.capabilities.screenResolutionX和System.capabilities.screenResolutionY,可以分别获得屏幕的水平和垂直分辨率。
var displayX:Number = System.capabilities.screenResolutionX;
var displayY:Number = System.capabilities.screenResolutionY;
trace(displayX+","+displayY);
更多信息请查看 FLASH 帮助:capabilities (System.capabilities)
本文转自:http://www.5uflash.com/flashjiaocheng/Flashaschengxu/148.html
<think> 我们正在讨论ADC分辨率的相关知识。根据用户的问题,他想了解ADC分辨率的定义、计算方法及相关知识。 结合之前的对话历史和引用的内容,我们可以整理如下: 引用内容要点: [^1]: 提到了过采样技术中,使用更大的数据位宽来避免计算溢出,从而真正提高分辨率。 [^2]: 详细介绍了过采样和求均值技术可以提高ADC的分辨率和信噪比(SNR),但代价是增加CPU时间和降低数据吞吐率。 [^3]: 说明了SAR ADC的分辨率范围(8位至18位)以及其应用特点。 [^4]: 解释了无噪声分辨率的计算公式:$ \text{noise-free resolution} = \log_2\left(\frac{\text{FSR}}{V_{\text{p-p noise}}}\right) $,并举例计算。 [^5]: 介绍了DNL(微分非线性)的定义,它与分辨率有关,但DNL值大可能导致SNR下降。 用户问题:ADC分辨率的定义、计算方法及相关知识。 回答结构: 1. **定义**:解释ADC分辨率的基本概念。 2. **计算方法**:如何表示和计算分辨率?包括理论分辨率、有效位数(ENOB)和无噪声分辨率等。 3. **提高分辨率的技术**:如过采样和求均值。 4. **相关参数**:如DNL、SNR等与分辨率的关系。 5. **实例计算**:举例说明分辨率计算。 6. **相关问题**:生成相关问题。 具体内容: ### 1. ADC分辨率的定义 ADC分辨率是指ADC能够区分模拟输入信号最小变化的能力,通常用位数(bit)表示。例如,一个8位ADC的分辨率意味着它可以产生$2^8=256$个不同的数字输出代码,对应的最小可分辨电压为$\frac{V_{\text{ref}}}{256}$(假设输入范围为0到$V_{\text{ref}}$)。分辨率越高,量化误差越小。 ### 2. 计算方法 **理论分辨率**: 对于一个N位的ADC,其理论最小可分辨电压(即1个LSB代表的电压)为: $$ \text{LSB} = \frac{V_{\text{ref}}}{2^N} $$ 其中$V_{\text{ref}}$为参考电压。 **有效位数(ENOB)**: 实际ADC由于噪声和非线性的影响,其有效分辨率低于理论值。ENOB的计算公式为: $$ \text{ENOB} = \frac{\text{SINAD} - 1.76}{6.02} $$ 其中SINAD(信号与噪声和失真比)单位为dB。 **无噪声分辨率(Noise-Free Resolution)**: 指ADC在输出代码中不出现噪声跳变的分辨率,计算公式为[^4]: $$ \text{无噪声分辨率} = \log_2\left(\frac{\text{FSR}}{V_{\text{p-p noise}}}\right) $$ 其中: - FSR:满量程范围(Full Scale Range),例如单极性ADC为$V_{\text{ref}}$,双极性ADC为$2V_{\text{ref}}$(对称正负范围)。 - $V_{\text{p-p noise}}$:输出噪声的峰峰值。 ### 3. 提高分辨率的技术:过采样和求均值 过采样是指以高于奈奎斯特频率(信号最高频率的两倍)的频率进行采样,然后对多个采样点求平均值,可以提高分辨率[^2]。过采样系数为$k$(即采样点数增加$k$倍),则分辨率可提高: $$ \Delta N = \log_2(\sqrt{k}) = \frac{1}{2}\log_2(k) $$ 因此,新的有效分辨率$N_{\text{new}} = N + \Delta N$。例如,对12位ADC进行4倍过采样,则$\Delta N = \log_2(\sqrt{4}) = \log_2(2) = 1$,即分辨率提高到13位。 注意:过采样过程中,需要使用足够位宽的变量存储累加值,以避免溢出[^1]。 ### 4. 相关参数与分辨率的关系 - **DNL(微分非线性)**:表示ADC实际转换步进与理想步进(1LSB)的偏差。DNL绝对值过大(如≤-1LSB)会导致丢码,降低有效分辨率[^5]。 - **SNR(信噪比)**:理想ADC的理论SNR为$6.02N+1.76$(dB),实际SNR越低,ENOB也越低。 ### 5. 实例计算 假设一个12位ADC,参考电压$V_{\text{ref}}=3.3\text{V}$,测得输出噪声峰峰值$V_{\text{p-p noise}}=100\mu\text{V}$(即0.0001V),计算无噪声分辨率: 首先,FSR(单极性)=$3.3\text{V}$,则: $$ \text{无噪声分辨率} = \log_2\left(\frac{3.3}{0.0001}\right) = \log_2(33000) \approx 15.0 \text{ bit} $$ 因此,虽然该ADC理论分辨率为12位,但其无噪声分辨率可达15位。 ### 6. 代码示例(过采样提高分辨率) 以下为使用过采样技术将8位ADC提升到10位分辨率的C语言示例: ```c #include <stdint.h> // 过采样系数k=16(提高2位分辨率,因为log2(sqrt(16))=2) #define OVERSAMPLING_RATE 16 uint16_t oversample_adc(uint8_t adc_reading) { static uint32_t sum = 0; // 使用32位变量避免溢出[^1] static uint16_t count = 0; sum += adc_reading; count++; if (count == OVERSAMPLING_RATE) { uint16_t result = (sum + OVERSAMPLING_RATE/2) / OVERSAMPLING_RATE; // 四舍五入 sum = 0; count = 0; return result; // 返回10位结果(原8位+2位) } return 0xFFFF; // 表示未完成 } ``` ### 注意事项 - 过采样技术会增加采样时间和计算开销。 - 提高分辨率的前提是输入信号包含足够的噪声(满足白噪声特性),否则需要人为添加噪声(dithering)[^2]。 §§相关问题§§ 1. 如何测量ADC的噪声峰峰值? 2. 过采样技术中,采样频率设置有什么要求? 3. 有效位数(ENOB)与无噪声分辨率有什么区别? 4. 如何通过硬件设计降低ADC的噪声? 以上内容基于引用资料和ADC基本原理整理而成。如有具体应用场景,可进一步深入探讨。 </think> ### ADC分辨率详解 #### 1. **定义** ADC分辨率指ADC能区分的最小模拟量变化,用位数$N$表示。它决定了量化精度:分辨率越高,量化误差越小。例如: - 8位ADC:$2^8=256$个量化等级 - 12位ADC:$2^{12}=4096$个量化等级 - 16位ADC:$2^{16}=65,536$个量化等级 分辨率直接影响最小可检测电压(1 LSB): $$ \text{LSB} = \frac{V_{\text{ref}}}{2^N} $$ 其中$V_{\text{ref}}$为参考电压[^3]。 #### 2. **计算方法** **基础分辨率计算**: $$ \text{分辨率 (bits)} = \log_2(\text{量化等级数}) $$ **有效分辨率计算**: 实际分辨率受噪声影响,需用有效位数(ENOB)表示: $$ \text{ENOB} = \frac{\text{SINAD} - 1.76}{6.02} $$ 其中SINAD为信噪失真比(dB)[^4]。 **无噪声分辨率计算**: $$ \text{无噪声分辨率} = \log_2\left(\frac{\text{FSR}}{V_{\text{p-p noise}}}\right) $$ - FSR:满量程范围(如±5V时FSR=10V) - $V_{\text{p-p noise}}$:输出噪声峰峰值[^4] #### 3. **关键参数** | **参数** | **定义** | **影响** | |----------------|---------------------------------------|-----------------------------------| | **DNL** | 微分非线性(实际步进与理想步进偏差) | DNL>1LSB可能导致丢码[^5] | | **INL** | 积分非线性(整体偏离理想转换曲线) | 影响线性度 | | **SNR** | 信噪比 | 决定ENOB上限 | | **量化误差** | $\pm \frac{1}{2}\text{LSB}$ | 理论最小误差 | #### 4. **提高分辨率的技术** **过采样与求均值**: - **原理**:以$k$倍奈奎斯特频率采样,对$k$个样本求均值 - **分辨率提升**:$$\Delta N = \frac{1}{2}\log_2(k)$$ 例如$k=16$时,分辨率提升2位[^2] - **实现要点**: ```c uint32_t sum = 0; // 必须用32位变量避免溢出(8位ADC时)[^1] for(int i=0; i<k; i++) sum += ADC_Read(); uint16_t result = sum / k; // 得到更高分辨率结果 ``` **硬件选择**: - SAR型ADC:适合8-18位中等分辨率应用(如STM32内置ADC)[^3] - Σ-Δ型ADC:适合24位高分辨率应用(如电子秤) #### 5. **实例分析** **12位ADC参数**: - $V_{\text{ref}} = 3.3\text{V}$ - 实测$V_{\text{p-p noise}} = 200\mu\text{V}$ - 无噪声分辨率计算: $$ \text{FSR} = 3.3\text{V}, \quad \log_2\left(\frac{3.3}{0.0002}\right) \approx 14\text{位} $$ #### 6. **设计建议** 1. **参考电压**:使用低噪声基准源(如REF5025) 2. **布局**:模拟/数字地分离,缩短走线 3. **滤波**:添加RC低通滤波器(截止频率$f_c=\frac{1}{2\pi RC}$) 4. **校准**:测量实际$V_{\text{ref}}$值补偿误差 > ⚠️ **噪声注意**:高频环境需屏蔽电磁干扰,低温漂电阻可减小温漂误差[^5] --- ### 📚 相关问题 1. 如何通过过采样技术将8位ADC提升到12位有效分辨率? 2. SAR ADC与Σ-Δ ADC在分辨率实现上有何本质区别? 3. 如何实测ADC的DNL和INL参数? 4. 低功耗设计中如何平衡分辨率与采样速率?
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