package jiChu;
import java.util.Scanner;
/**
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i,j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
*
* @author Vivinia
*
* 2018年1月22日
*/
public class Xinpian {
public static void main(String[] args) {
Scanner input = new Scanner(System.in);
int n = input.nextInt();
int[][] num = new int[n][n];
for (int i = 0; i < n; i++)
for (int j = 0; j < n; j++)
num[i][j] = input.nextInt();
input.close();
//下边的可加可不加,多一次筛选
/*for (int i = 0; i < n; i++) {
num[i][i] = 0; //原题中num[i][i]是全部为1的无用数据,所以我先设置为0
for (int j = 0; j < n; j++) {
if (num[i][j] == 1 && num[j][i] == 1 && i != j) { //如果有两个芯片互评为1,有可能全为好的,有可能全为坏的,所以将num[i][i]和num[j][j]设置为1做记录,筛选掉一部分坏的
num[i][i] = 1;
num[j][j] = 1;
}
}
}*/
for (int i = 0; i < n; i++) { //i为待输出数据,i中有可能为坏的
int count=0; //别的芯片对i芯片的测试为1的个数
for(int j=0;j<n;j++)
if(num[j][i]==1)
count++;
if(count>n/2) //因为好的比坏的多,所以好的芯片被评测为1的个数一定超过n/2
System.out.print(i + 1 + " ");
}
}
}
一开始没注意到原题中说好的比坏的多这一种情况,所以代码写得比较麻烦,是经过了两次选择,正常的一次就可以了。
1.当两个好的芯片互评是,num[i][j]==num[j][i],并且都为1,但是两个坏的也有这种可能;
2.代码简化可以直接对行进行遍历,直接删去原文中注释起来的代码;

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