55、内置自测试（BIST）技术详解

内置自测试（BIST）技术详解

1. BILBO 相关介绍

BILBO（Built-In Logic Block Observer）在测试电路中有着重要应用。为了提高其速度，采用了与非门（NAND gates）来替代与门（AND）和或门（OR）的实现方式。表 15.5 展示了该 BILBO 的控制线模式。

在测试配置方面，如图 15.25(a) 所示，存在三个待测试的子电路（CUTA、CUTB 和 CUTC）、两个 BILBO（BILBO1 和 BILBO2）、一个输入线性反馈移位寄存器（LFSR）以及一个用于测试硬件的输出多输入特征寄存器（MISR）。图 15.25(b) 则说明了如何利用这些测试硬件来测试电路的三个部分。

BILBO 有多种工作模式，不同模式下的硬件表现如下：
- 串行扫描模式 ：图 15.26 展示了 BILBO 在串行扫描模式下的有效硬件结构。
- LFSR 模式 ：图 15.27 呈现了 BILBO 在 LFSR 模式下的硬件情况。
- D 触发器模式 ：图 15.28 显示了 BILBO 在 D 触发器模式下的硬件状态。
- MISR 模式 ：图 15.29 给出了 BILBO 在 MISR 模式下的硬件结构，其中粗线表示启用的数据路径。

2. 随机逻辑 BIST 系统

2.1 时钟周期测试 BIST 系统（Test-Per-Clock BIST Systems）

在时钟周期测试 BIST 系统中，每个时钟周期都