45、集成电路延迟测试与 IDDQ 测试详解

集成电路延迟与IDDQ测试解析

集成电路延迟测试与 IDDQ 测试详解

1. 可变时钟非扫描顺序测试

在非扫描顺序电路中进行延迟故障测试时,需要不止两个向量。具体步骤如下:
1. 向量对要求 :向量对 (V1, V2) 中,V2 应通过组合函数由 V1 确定。
2. 生成 V1 :V1 由一组从某个初始状态开始的向量生成,这组向量称为证明序列。
3. 状态传播 :若路径终点是触发器,则需将状态传播到某个输出端口,这部分测试称为传播序列。

在图中,向量 V1 在某个时间帧应用,目标路径部分被激活。为确保 V2 正确生成且不受延迟影响,需使用慢时钟让 V1 有足够时间在电路中传播,整个测试序列中只有 V2 使用额定时钟,这种方法称为慢时钟或可变时钟延迟测试。

可变时钟非扫描顺序测试存在一些问题,例如在使用额定时钟的时间帧,其他路径延迟可能影响信号,导致某些触发器状态出现错误值,生成确保这些路径不被激活的测试较为困难。

1.1 测试定义

  • 组合稳健测试 :能保证在电路存在任意延迟的情况下检测组合电路目标延迟故障的测试,由满足特定条件的向量对 (V1, V2) 组成,应用时需确保 V1 变化稳定后再应用 V2。当组合电路嵌入触发器中时,组合稳健测试在非扫描电路中不一定有效。
  • 顺序稳健测试 :能保证在电路存在任意延迟的情况下检测顺序电路目标延迟故障的测试。对于可变时钟测试应用,考虑三种故障模型:
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