42、模拟电路自动测试模式生成与延迟测试

模拟电路自动测试模式生成与延迟测试

模拟自动测试模式生成

在模拟电路测试中，自动测试模式生成（ATPG）是一项关键技术，它有助于提高测试效率和降低成本。

基于二分图优化的测试集计算

通过二分优化图反映相关方程，LINDO程序计算出放大器的最佳测试集。该测试集意味着除了某些情况外，所有输出参数（PO）都应被测量。例如，小于15%的某些故障和小于15.98%的另一些故障在任何参数下都无法检测到。对于11.6% - 14.1%的偏差，某些参数是完全可测试的，但其他元件故障可能不可测试，保证的故障覆盖率为42.9%，且不能保证检测到小于11.6%的任何故障。

多故障情况分析

• 单故障模型 ：在放大器的不同阶段，对元件故障的敏感性不同，需要不同的故障模型。第一阶段的两个组件，只有一个参数对它们敏感，需要单故障模型。
• 双故障模型 ：第二阶段的两个组件，两个参数都对它们敏感，需要单故障和双故障模型。LINDO确定保证双故障最大可能故障覆盖率的测试集包含某些子集，需要测量特定参数并求解四个方程组。例如，当两个组件同时故障时，测量相应参数，可检测大于15%的变化，但某些同时偏差可能因相互掩盖而无法测量。
• 三故障模型 ：唯一有意义的三故障是某些组件同时故障，测量的传输参数对应的最大元件偏差为5%，即三个组件中大于5%的偏差可通过三故障模型测试。

结果分析

模拟灾难性故障使用此方法容易检测，而参数（软）故障使用单故障模型更难检