KLayout中的软连接支持及其在LVS验证中的重要性

KLayout中的软连接支持及其在LVS验证中的重要性

klayout KLayout Main Sources klayout 项目地址: https://gitcode.com/gh_mirrors/kl/klayout

软连接的概念与背景

在集成电路设计中,软连接(Soft Connection)是一种特殊的电气连接方式,主要用于检测电源或地线的缺失连接。与传统的硬连接不同,软连接允许某些特定条件下的非理想连接存在,同时又能识别出潜在的设计问题。

从LVS(版图与原理图对比)的角度来看,如果不进行软连接检查,通过nwell连接两个节点与通过金属线连接两个节点会被视为等同,尽管nwell的电阻值要大得多。这种差异在传统连接检查中无法体现,可能导致设计隐患。

软连接的技术实现

软连接检查本质上是一种"单向"连接验证机制。当底层形状连接到两个不同网络时,商业EDA工具通常会报告错误,这些错误可能出现在顶层、接触层或底层。KLayout作为开源版图工具,也需要支持这种关键验证功能。

在技术实现上,软连接可以被视为一种"单向断开"(类似于二极管器件)。在层次化处理中,nwell可能成为一个独立的层次化网络,这使得在局部范围内检查其是否连接到多个金属网络变得困难。

KLayout中的实现方案

KLayout在0.29版本中引入了软连接支持,主要采用以下技术路线:

  1. 使用"soft_connect(upper, lower)"替代传统的"connect"语句
  2. 使用"soft_connect_global"替代"connect_global"
  3. 支持多种类型的软连接(通过多个此类语句)

实现过程分为几个关键步骤:

  • 首先通过"断开"保持子网分离
  • 识别无效的软连接(即多个"二极管"式断开导致不同网络的情况)
  • 最后移除断开并将分离的子网合并为一个

应用场景与注意事项

软连接检查不仅适用于nwell连接,还可用于:

  • 普通衬底连接
  • pwell连接
  • 扩散区和多晶硅的缺失连接检测
  • 多级软连接检查(如金属到扩散接触再到阱)

在实际应用中需要注意:

  • PMOS器体的体节点与nwell的连接是允许的
  • p衬底作为全局网络时的特殊处理
  • 层次化性能与平面网表的权衡

验证策略与错误处理

KLayout的软连接验证会针对未连接的软连接网络产生警告,在顶层模式下则会报告错误并停止处理。系统只检查与器件相关的网络,以提高验证的智能性。对于非关键区域的连接问题,用户可以选择不使用顶层模式,通过手动方式豁免某些检查。

这一功能的引入显著提升了KLayout在先进工艺节点下的验证能力,使开源EDA工具能够更好地满足复杂芯片设计的验证需求。随着实际应用的反馈,这一功能还将继续完善和优化。

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创作声明:本文部分内容由AI辅助生成(AIGC),仅供参考

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