毕业设计——基于STM32视觉检测程序设计
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本仓库提供了一份基于STM32嵌入式平台的视觉检测程序设计资源文件，该文件包含以下内容：
- 缺陷图像获取
- 缺陷边缘轮廓提取算法
- 缺陷边缘轮廓图像的追踪算法与绘制
该程序设计为本人本科毕业设计的一部分，旨在实现STM32嵌入式平台上对缺陷图像的获取、边缘轮廓提取及追踪绘制。通过本程序，用户能够有效识别并处理图像中的缺陷，为相关领域提供了一种实用的解决方案。
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创作声明：本文部分内容由AI辅助生成（AIGC），仅供参考
