从零开始:使用Tessent 2019.2为门级网表插入Scan Chain的完整流程
在当今高度复杂的芯片设计中,可测试性设计(DFT)已成为不可或缺的一环。作为DFT的核心技术之一,扫描链(Scan Chain)的插入直接关系到芯片的可测试性和良率。本文将详细介绍如何使用Tessent 2019.2版本为门级网表插入扫描链的完整流程,特别针对该版本特有的指令和配置进行深入解析。
1. 环境准备与设计初始化
在开始扫描链插入前,必须确保设计环境配置正确。Tessent 2019.2对库文件和设计数据的加载有特定要求:
# 启动Tessent Shell并设置DFT上下文
/tools/mentor/tessent/tessent-2019.2/bin/tessent -shell
set_context dft -scan -design_id gate_level
关键注意事项:
- 必须使用
-design_id gate_level明确指定门级设计标识 - 2019.2版本推荐使用
-legacy参数兼容旧版脚本
1.1 文件加载与设计检查
加载设计文件时需特别注意文件顺序和版本兼容性:
# 读取单元库(注意顺序:基础库优先)
read_cell_library ../library/adk.tcelllib
read_cell_library ../library/ram.lib
# 加载门级网表(Verilog格式)
read_verilog ../synth/cpu_top_synthesized.vg
set_current_design cpu_top
版本差异提示:
- 2019.2版本新增
-allow_blackbox



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