硬件工程师之电子元器件—二极管（12）之ESD二极管在射频电路的应用

写在前面

本系列文章主要讲解二极管的相关知识，希望能帮助更多的同学认识和了解二极管。

若有相关问题，欢迎评论沟通，共同进步。(*^▽^*)

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二极管

37. 传输线脉冲(TLP)测试

传输线脉冲（TLP）是一种在ESD事件的电流和时域中测试器件性能的方法。

器件ESD抗扰度测试的常规模型包括人体模型（HBM）、机器模型（MM）和充电模型（CDM），而IEC 61000-4-2和其它标准规定了系统级ESD抗扰度测试。由于规定的信号上升时间不同，不同的测试方法可能得出不同的结果。

TLP测试通过将悬空电缆充电至预定电压并将其放电至被测器件（DUT）来生成方波。通过改变电缆长度和滤波器特性，很容易改变脉冲宽度和上升时间。

TLP测试使用宽度为纳秒量级的短脉冲，因此可在不引起热破坏的情况下获得高压、大电流区域（即ESD电压／电流区域）的I-V特性。

TLP测试可作为ESD设计的一种辅助手段，因为其不仅可以比较不同TVS二极管的ESD保护性能，还可比较TVS二极管的EDS耐受性与需受保护的IC的I-V曲线。

图 62 传输线脉冲(TLP)测试

38. ESD在射频电路的应用

随着智能手机、平板电脑、零售终端（POS）和其他移动设备的日益普及，这些设备也越来越多的暴露在带电人体或物体静电放电