Nand Flash 中的坏块(Bad Block)

NandFlash坏块解析
本文介绍了NandFlash中坏块的概念,分为出厂时存在和使用过程中产生的两种类型,并详细阐述了坏块的标记方法及管理策略。同时,文中还提到了Linux系统中的坏块管理机制。
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Nand Flash 中,一个块中含有 1 个或多个位是坏的,就称为其为坏块 Bad Block。坏块的稳定性是无法保证的,也就是说,不能保证你写入的数据是对的,或者写入对了,读出来也不一定对的。与此对应的正常的块,肯定是写入读出都是正常的。


坏块有两种:

(1) 出厂时就有存在的坏块:

一种是出厂的时候,也就是,你买到的新的,还没用过的 Nand Flash,就可以包含了坏块。此类出厂时就有的坏块,被称作 factory (masked) bad block 或 initial bad/invalid block,在出厂之前,就会做对应的标记,标为坏块。

(2) 使用过程中产生的坏块:

第二类叫做在使用过程中产生的,由于使用过程时间长了,在擦块除的时候,出错了,说明此块坏了,也要在程序运行过程中,发现,并且标记成坏块的。具体标记的位置,和上面一样。这类块叫做 worn-out bad block。即用坏了的块。



坏块的标记

       具体标记的地方是,对于现在常见的页大小为 2K 的 Nand Flash,是块中第一个页的 oob 起始位置(关于什么是页和 oob,下面会有详细解释)的第 1 个字节(旧的小页面,pagesize是 512B 甚至 256B 的 Nand Flash,坏块标记是第 6 个字节) 如果不是 0xFF, 就说明是坏块。相对应的是,所有正常的块,好的块,里面所有数据都是 0xFF 的。不过,对于现在新出的有些 Nand Flash,很多标记方式,有些变化,有的变成该坏块的第一个页或者第二个页,也有的是,倒数最后一个或倒数第二个页,用于标记坏块的。具体的信息,请参考对应的 Nand Flash 的数据手册,其中会有说明。对于坏块的标记,本质上,也只是对应的 flash 上的某些字节的数据是非 0xFF 而已,所以,只要是数据,就是可以读取和写入的。也就意味着,可以写入其他值,也就把这个坏块标记信息破坏了。对于出厂时的坏块,一般是不建议将标记好的信息擦除掉的。uboot 中有个命令是“nand scrub”就可以将块中所有的内容都擦除了,包括坏块标记,不论是出厂时的,还是后来使用过程中出现而新标记的。一般来说,不建议用这个。不过,在实际的驱动编程开发过程中,为了方便起见,我倒是经常用,其实也没啥大碍,呵呵。不过呢,其实最好的做法是,用“nand erase”只擦除好的块,对于已经标记坏块的块,不要轻易擦除掉,否则就很难区分哪些是出厂时就坏的,哪些是后来使用过程中用坏的了。

坏块的管理

      对于坏块的管理,在 Linux 系统中,叫做坏块管理(BBM,Bad Block Management)       ,对应的会有一个表去记录好块,坏块的信息,以及坏块是出厂就有的,还是后来使用产生的,这个表叫做坏块表(BBT,Bad Block Table) 。在 Linux 内核 MTD 架构下的 Nand Flash 驱动,和 Uboot 中 Nand Flash 驱动中,在加载完驱动之后,如果你没有加入参数主动要求跳过坏块扫描的话,那么都会去主动扫描坏块,建立必要的 BBT 的,以备后面坏块管理所使用。



坏块的比例

       而关于好块和坏块,Nand Flash 在出厂的时候,会做出保证:           1.关于好的,可以使用的块的数目达到一定的数目,比如三星的 K9G8G08U0M,整个 flash一共有 4096 个块,出厂的时候,保证好的块至少大于 3996 个,也就是意思是,你新买到这个型号的 Nand Flash,最坏的可能, 有 3096-3996=100 个坏块。不过,事实上,现在出厂时的坏块,比较少,绝大多数,都是使用时间长了,在使用过程中出现的。

            2.保证第一个块是好的,并且一般相对来说比较耐用。做此保证的主要原因是,很多 NandFlash 坏块管理方法中,就是将第一个块,用来存储上面提到的 BBT,否则,都是出错几率一样的块,那么也就不太好管理了,连放 BBT 的地方,都不好找了,^_^。

一般来说,不同型号的 Nand Flash 的数据手册中,也会提到,自己的这个 Nand Flash,最多允许多少个坏块。就比如上面提到的,三星的 K9G8G08U0M,最多有 100 个坏块。内容转自DSP工程师社区-www.logicdsp.com

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<think>嗯,用户想了解NAND FLASH原始坏块的概念和处理方法。这个问题涉及存储器的物理特性,需要从基础原理讲起。 用户可能是个嵌入式工程师,正在调试NAND FLASH驱动,遇到了坏块问题。也可能是学生研究存储器技术。从问题表述看,用户已经有一定基础,但需要系统性的概念解释。 原始坏块的核心是出厂时存在的缺陷块。引用[1][2]都提到NAND的物理特性导致擦写次数有限,而引用[3]特别区分了NOR和NAND坏块机制。需要强调三个关键点: 1. 原始坏块是生产过程中产生的,不是使用造成的 2. 每个block的spare area有标记位(引用[4]提到第6字节) 3. 处理时必须保留标记避免擦除 处理流程要分硬件和软件层面。硬件上通过检测spare area识别,软件上需要FTL层管理。特别要注意引用[4]强调的"不能擦除标记"原则,否则会破坏出厂信息。 用户可能隐含想知道实际编程中如何操作。可以补充:嵌入式系统里通常由驱动程序的bad block table管理,但具体实现要看控制器方案。 相关问题设计要覆盖延伸知识点:为什么NOR没有类似概念(引用[3]解释的物理结构差异)、检测方法的具体实现(如uboot如何扫描)、以及实际应用中的替代方案(比如eMMC如何规避这个问题)。</think>### NAND FLASH原始坏块的概念及处理 #### **原始坏块的定义** **原始坏块**(Initial Bad Block)指NAND Flash芯片在出厂测试时即被标记为不可用的存储块。由于制造工艺的物理限制,NAND Flash在生产过程中会天然存在少量缺陷单元。这些坏块的信息会被记录在**Spare Area(备用区)** 的特定位置(通常为第一页Spare Area的第6字节),若该字节值**非0xFF**,则表明此块为坏块[^1][^4]。 #### **原始坏块的特性** 1. **不可修复性** 原始坏块是物理性损伤(如氧化层缺陷),无法通过软件修复[^2][^3]。 2. **稳定性** 出厂后数量固定,不会随时间增加(区别于使用中产生的"后天坏块")。 3. **标记位置** 信息存储在Spare Area,避免占用主数据空间[^4]。 --- #### **原始坏块的处理方法** ##### **1. 识别阶段** - **扫描Spare Area** 首次使用前需全片扫描:读取每个Block第一页Spare Area的第6字节,若值非0xFF则判定为坏块[^4]。 - **关键注意** **禁止擦除坏块**:擦除操作会清除Spare Area中的坏块标记,导致后续误用损坏数据[^4]。 ##### **2. 管理机制** - **坏块表(Bad Block Table, BBT)** 建立逻辑地址到物理地址的映射表,将坏块标记为"禁用",系统操作时自动跳过[^1][^2]。 - **FTL(Flash Translation Layer)** 在控制器或驱动层实现动态地址映射,用备用块替换坏块,对上层透明[^1][^3]。 ##### **3. 写入避让策略** - **数据存储** 文件系统(如YAFFS/UBIFS)或FTL层确保数据不写入坏块地址。 - **预留备用区** 芯片设计时包含额外冗余块(通常2-5%),用于替换坏块[^2][^3]。 --- #### **操作流程示例** ```c // 伪代码:坏块检测流程 for (each block in NAND) { read_spare_area(block, page0); // 读取第一页Spare Area if (spare_byte[6] != 0xFF) { // 坏块标记检测 add_to_bad_block_table(block); // 加入坏块表 skip_erase(block); // 禁止擦除! } } ``` --- ### 相关问题 1. **NAND Flash的Spare Area除了坏块标记还有哪些用途?** 2. **如何区分原始坏块和使用中产生的后天坏块?** 3. **NOR Flash为什么没有"坏块"概念?**[^3] 4. **FTL层替换坏块时如何保证数据一致性?** [^1]: Nand Flash基础知识与坏块管理机制的研究 [^2]: nand flash 坏块 [^3]: Nand flash出厂就有坏块,NOR flash有吗? [^4]: NAND Flash坏块检测机制
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