Spotfire 对条形图中分组后的值排序

最新推荐文章于 2022-10-27 09:22:41 发布
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#数据分析

博客介绍了在条形图中的操作，即选中值后右击，可选择按值对条形图进行排序，属于数据分析中数据可视化相关内容。

在条形图中，选中值右击，选择按值对条形图排序：

TIBCO Spotfire 入门指南
kaiakai111的博客
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数据分析工具 - TIBCO Spotfire 入门指南（一） 文章目录数据分析工具 - TIBCO Spotfire 入门指南（一）前言一、Sportfire 是什么？二、使用Sportfire 创建一个简单的数据分析模型1.设置分析（加载数据）2.编辑数据源3.创建图表3.1 创建交叉表3.2 创建饼图3.3 创建树形图3.4 创建散点图3.5 创建自定义筛选器总结 前言 通过对本指南的学习，你可以了解到如何开始用TIBCO Sportfire分析数据，并能详细了解您可以做什么以及怎么做 一、Spo
Spotfire教程
12-06
Spotfire 分析软件教程，讲解了Spotfire的使用方法以及操作案例
Spotfire 中文帮助文档
07-10
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Spotfire 对 列 数据进行自定义排序
种麦南山下的博客
08-23 1130
访问“列属性”对话框的步骤： 1、在菜单栏上，单击“数据”>“列属性”。 2、单击“排序顺序”选项卡。 搜索需要排序的列名称，在“排序顺序”项中可选择自定义排序 点击配置，对数据进行自定义排序。 ...
Spotfire 的排名函数Rank和DenseRank
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10-27 1376
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spotfire客户端 组合图的系列依据如何设置滚动显示
07-17
最后，如果用户使用的是最新版本的Spotfire（从10.10开始），可以尝试使用新的图表功能，如Treemap或新的条形图滚动功能，但组合图本身不支持滚动系列。 因此，我建议用户考虑使用过滤或分页（通过脚本）的方式来...
【TERR数据挖掘探秘】：从报表中提取有价值信息的方法
TERR（Territory）数据挖掘技术是当前数据分析领域的重要工具，本文全面概述了TERR在数据挖掘中的应用，从环境搭建到数据预处理，再到核心技巧和报表自动化优化，最后通过实战案例分析展示了其在实际业务中的应用...
数据可视化与棒球统计分析新视角
在数据可视化中，将故事讲述的概念融入其中是一种创新的方式。此前已有不少学者在这方面进行了探索： - **Hauser**：将故事讲述概念应用于体可视化，把可视化的创建视为一个故事，并使用动画交互系统呈现顺序故事...
Spotfire 条形图属性 直线和曲线 格式设置
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08-25 918
如下图所示，横线值为0.17，将其改为17% 条形图上右键 “属性” ，找到直线和曲线，点击标签和工具提示，选中 “值” 行，选择格式。 选择百分比，保留小数的位数。
Spotfire调试经验——嵌套使用Over函数各选项实现动态同比分析（Dynamic period-over-period compare in Spotfire）
预见未来to50的专栏
05-24 2392
各季度销售额的直方图如下所示：问题：如何展现出各时间段内（年、季度、月、星期、天、小时、分、秒）以其上一层级为分组单位的累计销售额相比上一期同时间段的变化情况？解决方案：单击图标左侧Y轴销售额，编辑公式为“(Sum([Sales Total]) OVER(Intersect(Parent([Axis.X]),AllPrevious([Axis.X]))) / Sum([Sales Total]) ...
欢迎使用 TIBCO Spotfire 中文帮助
05-05
欢迎使用 TIBCO Spotfire®! TIBCO Spotfire 使您可以轻松访问、分析及创建数据的动态报告。通过让您快速确定关键业务数据中的趋势和模式，TIBCO Spotfire 提供了您是否是市场研究员、销售代表、科学家或加工工程师的即时值。 Spotfire 可以访问多个位置中的数据，例如，您的桌面或网络文件系统。它甚至可以访问远程数据库中的数据，每次您想要提出新问题时，无需涉及 IT 部门。 使用 Spotfire，您能够以交互方式筛选数据，并且会立即获得答案。通过 Spotfire，您还能够以条形图、交叉表、散点图的方式创建简明扼要但优雅大方且色彩丰富的图表，多种更有价值的工具将帮助您对影响业务的事件作出响应。 最后，Spotfire 可使您共享结果。在快节奏的数据世界中，可将静态报告仅用于良好的业务，通过 Spotfire，您可以创建动态报告，以帮助您提出新问题，并能够快速将报告转换为可向您的同事和客户展示的即时演示文稿。
Spotfire 应用 实例讲解 学习
05-05
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Spotfire7.12文档
06-07
spotfire server 端的安装配置和权限 用户设置 单点登录等配置
TIBCO Jaspersoft® Studio 6.2官方用户指导学习教程
08-08
TIBCO Jaspersoft® Studio 6.2官方用户指导学习教程，jaspersoft-studio-user-guide_6.2.pdf
spotfire报表开发课程
04-24
spotfire开发课程资料： 数据抽取 数据处理 数据开发 条形图 折线图 组合图 饼图 散点图 树地图 地图 筛选标记 最要还有函数哦~~~
Spotfire 设置 组合图表的刻度范围
种麦南山下的博客
08-20 1273
访问“刻度范围”对话框的步骤： 1、右击图表，在“图表属性”对话框中，转至显示“双刻度”或“多刻度”设置的Y轴页面。 2、如果使用“双刻度”，请单击“左轴”或“右轴”下方的“刻度范围”。如果使用“多刻度”，请从“个人刻度设置”下的下拉列表中选择用来定义刻度范围的刻度。您也可以选择“所有刻度”为所有刻度设置相同的范围，然后单击下拉列表右侧的“刻度范围”。 3、可以针对所有的刻度设置，也可针对单个值 （如图中的well count）设置。 设置刻度范围 ...
Spotfire开发经验——比率计算及多条件排除（sum() over及and (!A or !B)）
预见未来to50的专栏
07-31 3139
其实这两个问题都是比较简单的，只是因为是用户提出的变更请求，第一次碰到，所以，一开始觉得比较难。 第一个问题： 热图制作过程中，要求显示符合特定条件的记录数所占比例。 解决办法： 1. 发现该条件为文字描述，如果用count(字段=条件)这种方式进行计算，似乎不起作用 2. 增加计算列"字段flag"，用于辅助计算目标结果（if (字段=条件), 1, 0） 2. 增加
spotfire中文使用教程含演示数据以及二次开发思路整理
狗剩儿的记忆博客
11-22 8843
文档下载地址： https://download.youkuaiyun.com/download/weixin_41607523/46823463 基于Echarts图表的开发思路： 通过html语言、javascript语言做出一个基于需求所开发组件的静态图表（此处指手动填充数据，如下所示：） 最终生成一个我们所需要的组件基础模板，如下所示： 在此基础上我们要将以上代码嵌入到spotfire当中，如下所示： 在spotfire中需要做到以下几点： 1、 坐标轴的解决 2、 坐标轴刻度大小随数据大小改变 3、
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Spotfire中文教程的网址 可能需要翻墙使用，官网直接翻译中文教程
spotfire 工具中的wafer map叠图是什么意思
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<think> 我们正在讨论Spotfire工具中的wafer map叠图功能。用户询问其含义。 首先，我们需要明确wafer map（晶圆图）在半导体制造中的意义：它是用来展示晶圆上每个芯片（die）的测试结果或其他属性的分布图。 wafer map叠图（wafer map overlay）指的是将多个wafer map叠加显示在同一视图中的功能。这样做的目的是为了比较不同晶圆之间的差异，或者比较同一晶圆在不同测试步骤中的结果变化。 具体来说，叠图可以有以下含义： 1. 比较不同批次的晶圆：将多个晶圆图叠加，可以直观地看到不同批次或不同时间生产的晶圆在缺陷分布、良率等方面的差异。 2. 分析同一晶圆的多层测试结果：在半导体制造中，一个晶圆会经历多道测试工序。叠图可以展示同一晶圆在不同测试阶段（如CP测试、FT测试）的结果，帮助追踪缺陷的产生环节。 3. 叠加不同的数据层：例如，将电性测试结果与缺陷检测结果叠加，可以分析缺陷与电性失效之间的相关性。 在Spotfire中，wafer map叠图通常通过以下方式实现： - 使用不同的颜色或符号表示不同来源的数据（比如不同的测试步骤或不同的晶圆）。 - 提供交互式控制，允许用户选择叠加哪些层，调整透明度，以及设置不同的颜色方案。 这种可视化有助于工程师快速识别模式，例如： - 如果多个晶圆在相同位置出现缺陷，可能意味着系统性的工艺问题（如光刻掩模问题）。 - 如果缺陷在叠图中呈现随机分布，则可能是随机缺陷导致。 因此，wafer map叠图是半导体数据分析中一个强大的工具，用于提高良率和工艺稳定性。 接下来，根据要求生成相关问题。 §§相关问题§§ 1. 在Spotfire中如何创建wafer map叠图？ 2. wafer map叠图在良率分析中的具体应用案例有哪些？ 3. 如何解释wafer map叠图中出现的特定模式（如环形、边缘、随机等）？ 4. 除了叠图，Spotfire还有哪些分析晶圆数据的可视化方法？ </think> 在Spotfire工具中，**Wafer Map叠图**（Wafer Map Overlay）是一种半导体制造数据分析技术，指将多个晶圆图（Wafer Map）以透明图层方式叠加显示在同一坐标系中，用于直观比较不同批次、工艺参数或测试条件下的晶圆缺陷分布模式。其核心含义和用途包括： ### 核心意义： 1. **缺陷模式对比** 通过叠加显示多张晶圆图（如不同批次的晶圆），快速识别重复出现的缺陷空间分布模式（如边缘缺陷、中心环状缺陷等），辅助定位系统性工艺问题[^1]。 2. **多变量关联分析** 将不同测试参数的结果（如电性测试、光学检测）叠加在同一晶圆上，揭示参数间的相关性（例如某区域漏电缺陷与污染颗粒的位置重合）。 3. **工艺迭代验证** 叠加工艺改进前后的晶圆图，直接可视化良率变化区域，量化改善效果（如图1示例）： ``` 改善前晶圆图 ░░░░░▒▒▒▒▓▓▓▓ (良率82%) 改善后晶圆图 ░░░░░░░▒▒▒▓▓▓ (良率89%) ``` 4. **根源分析加速** 异常模式（如弧形、簇状缺陷）在单张晶圆图中可能不明显，但多图叠加可使微弱信号增强，更快锁定设备或材料问题[^2]。 ### 技术实现特点： - **透明度调节**：通过调整图层透明度控制叠加效果 - **动态筛选**：联动Spotfire筛选器实时调整参与叠图的批次/参数 - **热点标注**：自动标记重复出现缺陷的坐标区域 - **量化叠加**：对重叠区域的缺陷密度进行聚类统计（如图2）： $$D_{overlay} = \frac{1}{N}\sum_{i=1}^{N} \delta(x_i,y_i) \quad \text{(N=叠图数量)}$$ ### 典型应用场景： - **机台匹配分析**：叠加不同设备生产的晶圆，识别设备专属缺陷模式 - **时间轴分析**：按时间顺序叠加晶圆，追踪缺陷扩散路径 - **材料关联**：叠加使用不同供应商材料的晶圆，评估材料稳定性 > 图1：工艺改进前后叠图对比 > ░ 良品 ▒ 边缘缺陷 ▓ 中心缺陷 > ┌────────────┐ > │░░░░▒▒▒▓▓ │←改善前 > │░░░░░░▒▒▓▓ │←改善后 > └────────────┘
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