DFT实际应用-User-Defined Test Points Example

最新推荐文章于 2025-10-29 19:23:09 发布
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#DFT

本文探讨了DFT（Design for Testability）在数模混合IC测试中的应用，通过插入force_0测试点来降低模拟模块功耗并保持复位状态。介绍了如何在未连接的测试端口使用-force_0，并讲解了force_01的用法，以增强模拟周边逻辑的可测试性。此外，还提到了官方脚本在预览test points时的作用。

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本篇文章介绍insert_test_point的force_0的应用场景。
参考：对原文有改动。
DFTug P1098
https://mp.weixin.qq.com/s/snmgUs6BLAz6T1hPC-aRrA

force 0的应用

对于数模混合的IC，在测试的时候DI会不停翻转，从而影响到模拟模块，我们可以让模拟模块的复位信号强制拉低，插入一个force_0的测试点，从而让模拟模块处于一个低功耗的reset的状态，最好也在DI插上一个force_0的测试点。
在这里插入图片描述
插入命令：

set_test_point_element -type force_0 U_ANALOG/RSTN -control_signal $TEST_MODE
set_test_point_element -type force_0 U_ANALOG/DI -control_signal $TEST_MODE

因为上述测试点的测试端口并没有连接，因此，我们需要使用-view设置为spec：

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