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RSS订阅转载 硬盘 SMART 检测参数详解[转]
硬盘 SMART 检测参数详解[转]一、SMART概述 硬盘的故障一般分为两种：可预测的（predictable）和不可预测的（unpredictable）。后者偶而会发生，也没有办法去预防它，例如芯片突然失效，机械撞击等。但像电机轴承磨损、盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况，可以在在几天甚至几星期前就发现这种不正常的现象。如果发生这种问题，SMART功能会在开机时响起警报，至少让使用者有足够的时间把重要资料转移到其它储存设备上。 最早期的硬盘监控技术起源于1992年，IBM在AS/
2024-06-18 16:54:55
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空空如也
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