VivadoAndTcl: get_cells

本文详细介绍了get_cells命令的用法,特别是如何通过-hierarchical选项在层次结构中逐级查找Cell,如查找TestBufgMux的示例。还提到可以获取cells的相关信息,如pins等,需配合其他子命令使用。

摘要生成于 C知道 ,由 DeepSeek-R1 满血版支持, 前往体验 >

get_cells的用法:

get_cells  [-hsc <arg>] [-hierarchical] [-regexp] [-nocase] [-filter <arg>] [-of_objects <args>] [-match_style <arg>] [-include_replicated_objects] [-quiet] [-verbose] [<patterns>]

[-hsc ]:用于指定一个层级来进行检索,默认是/,不指定层级会报错。

[-hierarchical]:一个层级一个层级进行检索。

[-filter]:过滤表达式。

[-of_objects]:获得这些cells的pins、timing paths、nets、bels、clock regions、sites或者drc violations,实际还是需要调用get_pings等这些语句。

想要获取一个指定的cell,可以使用-hierarchical功能。

举例想要查找到TestBufgMux这个cell,则使用如下语句:

get_cells -hierarchical *TestBufgMux*
# 打印结果为user_application_inst/TestBufgMux

<think>好的,用户想要统计设计中所有唯一寄存器的参考单元名、实例数量和总物理面积。首先,我需要回想一下在数字设计流程中,通常使用什么工具来完成这类任务。可能涉及到综合工具或者静态时序分析工具,比如Design Compiler、Genus,或者是物理设计工具如Innovus、ICC2。 接下来,用户提到的寄存器单元应该是时序单元,也就是sequential cells,比如触发器(Flip-Flop)和锁存器(Latch)。不同的工艺库中,这些单元的参考名称可能不同,比如DFFRS1、DFFNS2等等。统计这些需要从网表中提取信息。 首先,可能需要通过Tcl脚本在EDA工具中执行命令,比如在Synopsys的Design Compiler里,可以用`get_cells`或`get_selection`来获取所有时序单元。然后过滤出这些单元,并按参考名称分类统计。 然后,要获取每个参考单元的面积信息。工艺库中的每个单元都有面积属性,可以通过`get_attribute`命令来获取,比如`get_attribute [get_lib_cells mylib/DFFRS1] area`。这样就能得到每个单元的面积,乘以实例数量得到总面积极。 需要注意的是,有些工具可能需要先链接到工艺库,确保库的信息已经加载。此外,可能存在不同电压或不同版本的相同单元,需要根据实际情况判断是否需要合并统计。 用户可能还需要考虑层次化设计中的实例,是否要递归地统计所有子模块中的寄存器。这时候需要使用`-hierarchical`选项来确保遍历所有层次。 另外,要确保脚本正确过滤出时序单元,可能需要通过`get_cells -filter "is_sequential==true"`这样的过滤条件,或者根据特定的参考名称模式进行匹配,比如使用通配符匹配所有以DFF开头的单元。 最后,输出结果可能需要整理成表格形式,列出每个参考名称、实例数和总面积。这样用户就可以清晰地看到各个寄存器单元的资源占用情况,进而进行优化或分析。 还有,用户提到的引用名称是否正确?比如,是否应该使用库中的参考名称(reference name)而不是实例名称。实例名称可能带有层次路径,而参考名称才是单元的类型,所以需要确认提取的是参考名称。 此外,面积的计算是否要考虑不同情况下的面积,比如不同驱动强度或不同功能的单元。例如,一个DFF可能有多个版本,面积不同,这时候需要分别统计。 总结下来,步骤应该是: 1. 获取设计中所有的时序单元实例。 2. 提取每个实例的参考单元名称。 3. 统计每个参考名称的出现次数。 4. 获取每个参考单元的面积,并计算总面积极。 5. 输出结果。 需要确保脚本在具体EDA工具中的兼容性,比如不同工具的命令可能略有不同。另外,是否有权限访问库中的面积属性,或者需要特定的命令来获取这些信息。 可能遇到的问题包括:如何处理层次化设计中的重复实例,如何确保所有时序单元都被正确识别,以及如何高效地处理大规模设计中的大量实例。这时可能需要工具的高效查询命令,或者分层次处理来优化脚本性能。 最后,还需要验证结果的正确性,比如抽样检查几个单元的实例数和面积是否与预期一致。这可以通过手动查看部分实例的属性和参考名称来确认。</think>在数字集成电路设计中,统计寄存器单元的引用名称及其实例信息可以通过以下步骤实现: ### 一、使用Tcl脚本统计寄存器单元 在Synopsys设计工具(如Design Compiler、Fusion Compiler)中,可通过Tcl脚本实现统计: ```tcl # 获取所有时序单元实例 set seq_cells [get_cells -hierarchical -filter "is_sequential==true"] # 创建哈希表统计单元类型 array unset cell_count array unset cell_area foreach_in_collection cell $seq_cells { set ref_name [get_attribute $cell ref_name] set area [get_attribute [get_lib_cells $ref_name] area] if {[info exists cell_count($ref_name)]} { incr cell_count($ref_name) set cell_area($ref_name) [expr $cell_area($ref_name) + $area] } else { set cell_count($ref_name) 1 set cell_area($ref_name) $area } } # 输出结果 puts "Reference_Name\tInstance_Count\tTotal_Area" foreach ref_name [array names cell_count] { puts "$ref_name\t$cell_count($ref_name)\t$cell_area($ref_name)" } ``` ### 二、关键步骤说明 1. **层次遍历**:使用`-hierarchical`参数确保统计包含所有子模块 2. **时序单元过滤**:`is_sequential==true`过滤条件准确识别寄存器单元[^1] 3. **面积计算**: - `get_lib_cells`获取工艺库单元属性 - 累加面积时考虑不同驱动强度的单元变体 ### 三、数据验证方法 ```tcl # 抽样验证 set sample_cell [get_cells -filter "is_sequential==true" -limit 1] puts "Sample cell: [get_attribute $sample_cell full_name]" puts "Ref name: [get_attribute $sample_cell ref_name]" puts "Area: [get_attribute [get_lib_cells [get_attribute $sample_cell ref_name]] area]" ``` ### 四、进阶统计方法 对于大型设计,建议采用分层次统计策略: ```tcl proc count_seq_cells {hier_path} { set total_count 0 set sub_blocks [get_designs -hierarchy $hier_path] foreach block $sub_blocks { current_design $block set seq_count [sizeof_collection [get_cells -filter "is_sequential==true"]] incr total_count $seq_count } return $total_count } ```
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值