微带不连续性分析与传输线矩阵(TLM)方法
微带不连续性分析
在微带电路的设计和分析中,微带不连续性是一个重要的研究课题。微带不连续性会对电路的性能产生显著影响,因此准确分析微带不连续性对于电路的优化设计至关重要。
散射参数的频率依赖性
散射参数是描述微带不连续性的重要指标。图23展示了散射参数S11和S21的相位随频率的典型变化。在零频率时,S11的相位角为180°,S21的相位角为0°。随着频率的增加,反射系数的相位角减小,而传输系数的相位角增加。这种相位的频率依赖性在具有低(<50Ω)特性阻抗的阻抗阶跃情况下较为明显,而从50Ω到更高特性阻抗的阻抗阶跃,其散射参数的相位角对频率的依赖性则较低。
| 频率(GHz) | S11相位角(°) | S21相位角(°) |
|---|---|---|
| 0 | 180 | 0 |
| 2 | 170 | 10 |
| 4 | 160 | 20 |
| 6 | 150 | 30 |
| 8 | 140 | 40 < |
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