图中的路径识别问题研究
1. 测试覆盖与识别问题概述
在过去几十年里,识别问题在不同名称和不同背景下被多次探讨。这里介绍两个来自文献的通用问题,分别是最小测试覆盖问题(MIN - TC)和最小识别问题(MIN - ID)。这两个问题的实例都是集合系统,即由元素集合 (I)(“个体”)和 (I) 的子集集合 (A)(“属性”)组成的对。
- 最小测试覆盖问题(MIN - TC) :给定个体和属性的集合系统,该问题要求找到 (A) 的最小子集 (C),使得对于 (I) 中的每一对元素 (I) 和 (I’),都存在 (C) 中的元素 (C),恰好覆盖 (I) 和 (I’) 中的一个,即 (C) 能将 (I) 与 (I’) 分离。此问题在众多论文中以不同名称出现。
- 最小识别问题(MIN - ID) :它是 MIN - TC 的一个轻微修改,不仅要求每对个体被分离,还要求每个个体都被覆盖。MIN - TC 和 MIN - ID 非常接近,对于其中一个问题的任何解,另一个问题都有一个大小相差最多为 1 的解。
这两个问题都是著名的最小集合覆盖问题(MIN - SC)的特殊情况。已知这两个问题都可以通过归约到 MIN - SC 实现 (O(\ln(|I|))) 近似,同时它们不仅是 NP 难问题,而且通过从 MIN - SC 归约证明,在 (o(\ln(|I|))) 因子内近似也是 NP 难的。
当 (A) 中的集合都恰好有 (k) 个元素时,MIN - ID 的这种自然限制问题被称为 MIN - ID - k。
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